[发明专利]同位素比测量

权利要求书

1.一种操作同位素比谱仪用于测量样品的方法，包括：

在第一测量时间段内在所述谱仪中测量第一参考的第一同位素比和第一信号强度，包括第一同位素比和第一信号强度之间的关系的第一关系被确定；

在所述第一测量时间段之后的第二测量时间段内在所述谱仪中测量样品同位素比和样品信号强度；

在所述第二测量时间段之后的第三测量时间段内在所述谱仪中测量第二参考的第二同位素比和第二信号强度，包括第二同位素比和第二信号强度之间的关系的第二关系被确定；

在所述第一测量 时间段内建立时间A，在所述时间A处，所述第一参考的信号强度与时间X处的所述样品的信号强度相匹配，并且藉此使用所述第一关系识别所述时间A的第一参考同位素比；

在所述第三测量 时间段内建立时间B，在所述时间B处，所述第二参考的信号强度与所述时间X处的所述样品的信号强度相匹配，并且藉此使用所述第二关系识别所述时间B的第二参考同位素比；以及

基于所述时间X、所述时间A的第一参考同位素比、所述时间A、所述时间B的第二参考同位素比和所述时间B估算所述第二测量时间段内的所述时间X的参考同位素比。

2.如权利要求1所述的方法，进一步包括：

对于多个第一参考信号强度中的每一个，使用所述第一关系建立相应的第一参考同位素比R_1,n，和所述第一测量 时间段内的相应时间A_n；以及

对于多个第二参考信号强度中的每一个，使用所述第二关系建立相应的第二参考同位素比R_2,n，和所述第三测量 时间段内的相应时间B_n；

选择所述第一参考信号强度中与所述时间X处的所测量的样品信号强度相匹配的一者和第二参考信号强度中与所述时间X处的所测量的样品信号强度相匹配的一者；以及

其中估算所述第二测量时间段内的所述时间X的参考同位素比基于所选择的第一参考信号强度的第一参考同位素比、所选择的第一信号强度的时间A_n、所选择的第二信号强度的第二参考同位素比和所选择的第二信号强度的时间B_n。

3.如权利要求2所述的方法，进一步包括：

选择所述第一参考信号强度中的另一个和相同的第二参考第二信号强度中的另一个；以及

基于所选择的另一个第一参考信号强度的第一参考同位素比、所选择的另一个第一参考信号强度的时间A_n、所选择的另一个第二参考信号强度的第二参考同位素比和所选择的另一个第二信号强度的时间B_n估算所述第二测量时间段内不同于所述时间X的时间Y的参考同位素比。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，估算所述第二测量时间段内的所述时间X的参考同位素比包括根据时间X在所述第一参考信号强度的时间与所述第二参考信号强度的时间之间的位置在所述第一参考同位素比与所述第二参考同位素比之间的线性插值。

5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一关系还包括第一信号强度和时间之间的关系和/或其中所述第二关系还包括第二信号强度和时间之间的关系。

6.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一同位素比和所述第一信号强度之间的关系和/或所述第二同位素比和所述第二信号强度之间的关系包括线性函数或二阶或更高阶多项式函数。

7.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，测量所述第一参考的第一同位素比和第一信号强度的步骤包括选择起始的第一信号强度，其中测量所述第二参考的第二同位素比和第二信号强度的步骤包括选择起始的第二信号强度，并且其中所述起始的第一信号强度和所述起始的第二信号强度是相同的。