[发明专利]绝缘子积污预测方法、系统、电子装置及存储介质在审
申请号: | 201910727560.X | 申请日: | 2019-08-07 |
公开(公告)号: | CN110428108A | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 梅红伟;杨佳欣;王黎明 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院 |
主分类号: | G06Q10/04 | 分类号: | G06Q10/04;G06Q10/00;G06Q50/06 |
代理公司: | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人: | 曾昭毅;郑海威 |
地址: | 518055 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘子 时间单元 绝缘子表面 预设 存储介质 电子装置 环境参数 预测 绝缘子结构 结构参数 时间历程 预测结果 预测系统 监测 | ||
本发明提供一种绝缘子积污预测方法,包括:获取被监测绝缘子的结构参数以及预设时间长度内所述绝缘子所处环境的环境参数;将所述预设时间长度离散为多个时间单元,根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量;根据所述每个时间单元内绝缘子表面整体积污量,计算在所述预设时间长度内绝缘子表面的积污总量。本发明还提供一种绝缘子积污预测系统、电子装置及存储介质。本发明基于时间历程进行绝缘子积污预测,灵活性强、预测结果更贴近实际情况。
技术领域
本发明涉及电力输送技术领域,具体涉及一种基于时间历程算法的绝缘子积污预测方法、绝缘子积污预测系统、电子装置及计算机可读存储介质。
背景技术
外绝缘污秽问题是影响高压直流输电工程建设和运维的重要技术问题。直流设备表面的积污可能引起设备表面污闪放电乃至闪络,严重影响直流系统运行的可靠性和电网运行的安全性。直流设备的积污水平直接影响设备外绝缘参数的选择,对直流高压设备制造和价格均产生重要的影响。现有国内外的电力研究机构和高等院校针对高压直流设外绝缘开展了大量的研究工作,但是由于直流工程数量和运行条件的限制,对高压直流设备在不同环境条件下积污特性的详细研究还比较少,未能实现对绝缘子积污进行预测计算。目前,国内外主要通过自然污秽试和人工污秽试验研究绝缘子积污特性。然而,自然污秽试验试验周期长、结果分散性大,难以为绝缘子积污预测提供大量有效数据;人工污秽试验成本高、控制变量难度大,同样难以获得大量有效数据。因此,需要一种新的手段对绝缘子积污进行预测,以为各类直流工程的建设和运维提供全面的参考。
发明内容
鉴于以上问题,本发明提出一种绝缘子积污预测方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质,提供了不同环境下的绝缘子积污预测方法,提高了绝缘子积污预测的准确率,辅助电力传输系统提供有效的污秽解决方案。
本申请的第一方面提供一种绝缘子积污预测方法,所述方法包括:
获取被监测绝缘子的结构参数以及预设时间长度内所述绝缘子所处环境的环境参数,其中,所述环境参数包括但所述绝缘子所处输变电设备的直流电压等级值、所述绝缘子所处环境中污染物浓度值、风速、降雨量,所述绝缘子的结构参数包括绝缘子的型号参数;
将所述预设时间长度离散为多个时间单元,根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量;
根据所述每个时间单元内绝缘子表面整体积污量,计算在所述预设时间长度内绝缘子表面的积污总量。
进一步,所述“将所述预设时间长度离散为多个时间单元,根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量”的方法为:
将预设时间长度划分为1、2…i…n共n个时间单元,第i个时间单元的截止时间点称为第i时刻;
i时刻绝缘子表面的积污量通过如下计算公式得到:
ψi=Δψi+ψi-1,
其中ψi为i时刻绝缘子表面的积污量,ψi-1为i-1时刻对应的积污量,Δψi为第i个时间单元内的积污增量。
进一步,所述第i个时间单元内的积污增量Δψi通过第i个时间单元内的污秽沉积量减去污秽流失量得到,所述第i个时间单元内的积污增量的计算公式为:
其中为第i个时间单元内的污秽沉积量,对应污秽的动态沉积过程;ηi为第i个时段内的降水引起的污秽流失率。
进一步,所述绝缘子表面整体积污量等于绝缘子各表面的污秽积累量之和。
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