[发明专利]检测透射式光学系统任意波长焦距的方法

权利要求书

1.一种检测透射式光学系统任意波长焦距的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，使用测量焦距的仪器对光学系统的焦距进行测量，得到光学系统λ₀的焦距f(λ₀)；

步骤二，使用测量后截距的装置对光学系统的后截距进行测量，得到光学系统λ₁～λ_m的后截距l(λ₁)、l(λ₂)……l(λ_m)；

步骤三，将步骤二得到m种波长的后截距l(λ₁)、l(λ₂)……l(λ_m)代入后截距与波长的方程，

m＝1，2，3，4，

计算A_l、B_l、C_l和D_l的值；

步骤四，将计算得到的A_l、B_l、C_l和D_l的值代入公式(1)中，分别计算波长为λ₀和λ_n的光学系统后截距l(λ₀)和l(λ_n)；

步骤五，将计算得到的l(λ₀)和l(λ_n)代入公式(2)中，

计算λ₀和λ_n的光学系统后截距的间隔

步骤六，将测量得到的f(λ₀)和计算得到的代入公式(3)中，

计算波长为λ_n的光学系统焦距f(λ_n)，

其中，所述光学系统为单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中的任意一种。

2.根据权利要求1所述的检测透射式光学系统任意波长焦距的方法，其特征在于：

其中，400nm≤λ₀≠λ₁≠…≠λ_m≠λ_n≤1000nm，或400nm≤λ₀＝λ₁≠…≠λ_m＝λ_n≤1000nm，或400nm≤λ₀＝λ₁＝λ_n≠…≠λ_m≤1000nm，所述光学系统为消色差系统或复消色差系统，

当所述光学系统为消色差系统时，步骤三中，1.1≤X₁≤4.9，5≤X₂≤6.2，1.8≤X₃≤2.3，

当所述光学系统为复消色差系统时，步骤三中，0.1≤X₁≤3.1，3.9≤X₂≤6.9，1.8≤X₃≤2.4，6.5≤X₁+X₂≤7.2。