[发明专利]飞行时间质谱分析装置和记录介质

权利要求书

1.一种飞行时间质谱分析装置，具备：

飞行管；

离子导入部，其与所述飞行管连接；

离子检测器，其用于检测在所述飞行管内飞行的离子；以及

控制部，其用于控制所述离子导入部和所述飞行管，

其中，所述控制部在重复进行的多次测量中依次变更由所述离子导入部导入到所述飞行管的离子的量，以及

所述控制部基于所述多次测量中的将所述离子的量设定得相对高的测量中的检测结果来计算存在比相对低的离子的飞行时间，并且基于所述多次测量中的将所述离子的量设定得相对低的测量中的检测结果来计算存在比相对高的离子的飞行时间。

2.根据权利要求1所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述离子导入部具有离子阱。

3.根据权利要求2所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述离子的量的变更是通过变更向所述离子阱累积的累积时间来进行的。

4.根据权利要求1所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的结果来从多个离子的量中决定离子的最优量。

5.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部在决定了所述离子的最优量后，在变更所述离子的量时，将所述离子的最优量设定得比其它的离子的量多。

6.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的峰值强度，来决定所述离子的最优量。

7.根据权利要求5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的峰值强度，来决定所述离子的最优量。

8.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的时间宽度，来决定所述离子的最优量。

9.根据权利要求5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的时间宽度，来决定所述离子的最优量。

10.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的各个结果中的离子检测量的积分值来决定所述离子的最优量。

11.根据权利要求5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部基于所述多次测量的各个结果中的离子检测量的积分值来决定所述离子的最优量。

12.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

除了所述离子检测器以外还具备第二离子检测器，该第二离子检测器用于检测被导入到所述飞行管的离子的量，

所述控制部基于所述多次测量的各次测量中的所述第二离子检测器的离子检测量的积分值，来决定所述离子的最优量。

13.根据权利要求5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

除了所述离子检测器以外还具备第二离子检测器，该第二离子检测器用于检测被导入到所述飞行管的离子的量，

所述控制部基于所述多次测量的各次测量中的所述第二离子检测器的离子检测量的积分值，来决定所述离子的最优量。

14.根据权利要求4～13中的任一项所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，

所述控制部将在所述离子的最优量下测量出的结果显示到显示部。