[发明专利]一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法

权利要求书

1.一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系，基于此线性关系，通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径。

2.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的不同的电压都能够保证所工作的聚合物流体能够电纺成为固体纳米纤维。

3.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的聚合物流体为能够电纺成纤的天然聚合物和人工合成聚合物中的至少一种。

4.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的泰勒锥的高度通过照相机放大拍摄，以纺丝头的外径为基准进行计算得到。

5.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的纳米纤维的直径的测量方法包括：将收集的电纺纳米纤维膜喷金处理，拍摄纳米纤维的扫描电子显微镜图样，根据图样统计分析得到纳米纤维的平均直径。

6.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的线性关系的建立方法包括：以泰勒锥的高度为自变量，以对应纳米纤维的直径为因变量进行线性回归分析，获得线性方程。

7.如权利要求1所述的基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，所述的通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径的具体步骤包括：将测得的泰勒锥的高度数值代入所述的线性关系中，计算得到所制备的电纺纳米纤维直径。