[发明专利]组合型探测系统及探测器件

权利要求书

1.一种组合型探测系统，其特征在于，包括：控制系统，以及两种或者超过两种的探测器件或探测子系统；

所述控制系统根据至少一种探测器件或者探测子系统获取的探测信息，设定全部或部分探测器件或探测子系统的探测参数；

探测参数包括以下任一种或者任多种参数：

-角度参数；

-距离参数；

-扫描范围参数；

-光束的模式参数；

-光束的强度参数；

-光束编码参数；

所述探测参数根据获得的探测信息实时变化；

所述控制系统还包括：

计算控制单元：根据全部或者部分探测器件、探测子系统获得的探测信息，计算出探测物体的空间位置和/或运动信息，输出空间位置和/或运动信息；

SLM器件根据控制系统发出的调制光束模式信息调制出所需的光束模式；

SLM器件根据调制信息来控制光束扫描，光束模式对应的调制信息包括：相位分布信息。

2.根据权利要求1所述的组合型探测系统，其特征在于，所述控制系统控制至少一种探测器件或探测子系统进行粗略探测或者粗略扫描，并根据粗略探测或者粗略扫描所得的探测信息确定其它一种或多种探测器的探测范围或者扫描范围，进行精确探测或者精确扫描。

3.根据权利要求1所述的组合型探测系统，其特征在于，所述控制系统包括：

同步控制单元：发送和/或接收同步信号，通过所述同步信号同步各探测器件或探测子系统的探测及扫描。

4.根据权利要求1所述的组合型探测系统，其特征在于，所述探测器件或者探测子系统采用以下任一种或者任多种器件：

-毫米波雷达器件；

-激光雷达器件；

-摄像头器件；

-超声波雷达器件。

5.根据权利要求4所述的组合型探测系统，其特征在于，所述激光雷达器件包括：激光雷达发射端；

激光雷达发射端包括一种或者多种扫描器件。

6.根据权利要求5所述的组合型探测系统，其特征在于，所述扫描器件包括SLM器件，振镜器件、波导相控阵器件、衍射器件、旋转机械器件中的任一种或者任多种器件来实现光束的扫描。

7.根据权利要求6所述的组合型探测系统，其特征在于，所述SLM器件采用如下任一种或者任多种器件：

-相位调制的硅基液晶器件；

-metasurface液晶器件；

-液晶器件。

8.根据权利要求7所述的组合型探测系统，其特征在于，所述相位调制硅基液晶或液晶器件采用ECB模式封装。

9.根据权利要求6所述的组合型探测系统，其特征在于，SLM器件或者振镜器件根据控制系统发出的扫描设定位置信息控制光束扫描设定的位置。

10.根据权利要求1所述的组合型探测系统，其特征在于，所述光束模式包括以下任一种或者任多种模式：

-点模式；

-线模式；

-面模式；

-点阵模式；

-线阵模式；

-面阵模式。

11.根据权利要求1所述的组合型探测系统，其特征在于，所述光束模式对应的调制信息的生成采用如下任一种或者任多种方式：

-读取预存的调制信息；

-实时计算调制信息。

12.根据权利要求11所述的组合型探测系统，其特征在于，所述实时计算调制信息采用以下任一种或者任多种计算方式：

-傅里叶变换；

-傅里叶逆变换；

-菲涅尔变换；

-菲涅尔逆变换；

-空间角频谱传播；

-相位叠加。