[发明专利]一种干涉仪及测量保偏光纤及偏振器件偏振耦合的方法

权利要求书

1.一种干涉仪，其特征在于：包括偏振分束棱镜、偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器；偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器以偏振分束棱镜为中心放置，其中，偏振分束棱镜、第一1/4波片、测量镜从左到右依次排列放置，参考镜、第二1/4波片、偏振分束棱镜、偏振片、光电探测器从上到下依次排列放置；

偏振分束棱镜，被配置为用于将垂直入射的一束椭圆偏振光分为两束正交的P偏振光和S偏振光；

第一1/4波片、第二1/4波片，被配置为用于将偏振光的偏振方向进行偏转；

测量镜，被配置为用于将透射的P偏振光进行反射；

参考镜，被配置为用于将反射的S偏振光进行反射；

偏振片，被配置为用于将从偏振分束棱镜出射的两束正交的P’偏振光和S’偏振光进行干涉；

光电探测器，被配置为用于接收干涉后的信号并进行测量；

偏振分束棱镜将垂直入射的一束椭圆偏振光分为两束正交的P偏振光和S偏振光；

其中，透射的P偏振光作为测量光，通过第一1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入测量镜，经测量镜反射后，第二次进入第一1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为S’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜反射后进入偏振片；

反射的S偏振光作为参考光，通过第二1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入参考镜，经参考镜反射后，第二次进入第二1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为P’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜透射后进入偏振片；

从偏振分束棱镜出射的两束正交的P’偏振光和S’偏振光通过偏振片后发生干涉，由光电探测器接收测量。

2.根据权利要求1所述的干涉仪，其特征在于：参考镜和测量镜为平面镜或角锥棱镜。

3.根据权利要求1所述的干涉仪，其特征在于：第一1/4波片、第二1/4波片与偏振分束棱镜的光轴夹角均为45°。

4.根据权利要求1所述的干涉仪，其特征在于：偏振片与偏振分束棱镜的光轴夹角为45°。

5.一种测量保偏光纤及偏振器件偏振耦合的方法，其特征在于：采用如权利要求1所述的一种干涉仪，具体包括如下步骤：

步骤1：SLD光源的输出光通过起偏器后，注入被测保偏光纤或偏振器件的其中一个偏振主轴，由于保偏光纤或偏振器件自身的双折射效应，会在正交的另一偏振主轴上产生偏振耦合；由于偏振主模与耦合模的传输速度不同，在被测保偏光纤或偏振器件的出射端，两种模式之间会产生光程差，出射光垂直入射到偏振分束棱镜，偏振分束棱镜将偏振主模与耦合模分为两束正交的P偏振光和S偏振光；

步骤2：透射的P偏振光作为测量光，通过第一1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入测量镜，经测量镜反射后，第二次进入第一1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为S’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜反射后进入偏振片；

步骤3：反射的S偏振光作为参考光，通过第二1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入参考镜，经参考镜反射后，第二次进入第二1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为P’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜透射后进入偏振片；

步骤4：从偏振分束棱镜出射的两束正交的P’偏振光和S’偏振光通过偏振片后发生干涉，由光电探测器接收测量；

步骤5：移动测量镜，补偿P偏振光和S偏振光之间的光程差，得到白光干涉包络信号；

步骤6：然后由数据处理装置来获得偏振耦合点的位置和强度信息。