[发明专利]一种复合磁场磁光成像无损检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910738735.7 申请日: 2019-08-12
公开(公告)号: CN110514734A 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 高向东;季玉坤;马女杰;张艳喜;游德勇 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82
代理公司: 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 代理人: 张金福<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 510006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 恒定磁场源 磁光 磁光传感器 交变磁场 二维运动平台 交直流电源 复合磁场 检测工件 可视化 图像 成像 卷积神经网络 无损检测技术 无损检测系统 处理器连接 焊接缺陷 检查结果 缺陷检测 无损检测 直接转化 处理器 励磁 磁场 采集
【权利要求书】:

1.一种复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述系统包括:二维运动平台(1)、恒定磁场源(2)、交变磁场源(3)、磁光传感器(4)、交直流电源(5)、处理器(6);

恒定磁场源(2)设于二维运动平台(1)的上方,恒定磁场源(2)与二维运动平台(1)之间可放置待检测工件(7);

二维运动平台(1)用来放置待检测工件(7),并可带动待检测工件(7)沿水平面进行二维运动;

交变磁场源设于恒定磁场源(2)的外侧,交变磁场源(3)与交直流电源(5)连接;

磁光传感器(4)设于恒定磁场源(2)的磁场范围内;磁光传感器(4)和处理器(6)连接;

磁光传感器(4)将磁场信息变为磁光图像传递给处理器(6);处理器(6)对磁光图像进行处理,实现无损检测。

2.根据权利要求1所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述的恒定磁场源(2)的结构为“U”形结构;恒定磁场源(2)的U形机构的开口朝下,磁光传感器(4)设于恒定磁场源(2)的U形开口端的开口内。

3.根据权利要求2所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述的交变磁场源(3)为“U”形结构,设置于恒定磁场源(2)U形结构外侧,使得恒定磁场源(2)的U形结构与交变磁场源的U形结构重叠,且二者处于同一竖直平面内。

4.根据权利要求3所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,交变磁场源(3)由硅钢片和铜线绕制而成;铜线的两端分别与交直流电源(5)的正负极连接。

5.一种应用于权利要求1-4任一项所述的复合磁场磁光成像无损检测系统的检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

S1:利用复合场对待检测工件进行励磁,复合磁场是恒定磁场和交变磁场共同激励形成的;

S2:通过磁光传感器,对待检测工件的磁光图像进行采集,并将磁光图像信息传输至处理器;

S3:处理器运用卷积神经网络对磁光图像进行缺陷检测;

S4:将检查结果可视化,传递给监控人员。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,S3包括以下步骤:

S3.1:样本标定;

S3.2:建立预测模型:预测模型采用6个卷积层,经预处理后的磁光图像将化为19×19×50的矩阵;

设输入图像分辨率为n*m,将输入图像转化为601*601*3作为CNN输入层,CCN模型中有如下参数:

f[l]:卷积核的尺寸;

s[l]:每一步跨几格;

卷积核的数量;

其中[l]代表着第l层;

l层维度为:

其中,本模型中为本层高度,为本层宽度,可用n[l]表示;

第l层卷积核可以表示为:

其中19×19表示将图像分为19×19个目标框,50=5×(5+5),其中第一个5表示每个目标框可以检测五个目标物,第二个5是指可以检测5种缺陷,每个缺陷由5种信息表示,五种信息分别为:出现概率,缺陷中心横坐标,缺陷中心纵坐标、缺陷宽度、缺陷长度;

S3.3:初始化权值,对每层的卷积核进行初始化;

S3.4:利用标定好的样本对模型进行训练,并获得高准确率检测试件缺陷的模型;

S3.5:利用训练好的模型对传输进来的磁光图像实现实时缺陷检测。

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