[发明专利]一种复合磁场磁光成像无损检测系统及方法在审
申请号: | 201910738735.7 | 申请日: | 2019-08-12 |
公开(公告)号: | CN110514734A | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 高向东;季玉坤;马女杰;张艳喜;游德勇 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82 |
代理公司: | 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 张金福<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 510006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 恒定磁场源 磁光 磁光传感器 交变磁场 二维运动平台 交直流电源 复合磁场 检测工件 可视化 图像 成像 卷积神经网络 无损检测技术 无损检测系统 处理器连接 焊接缺陷 检查结果 缺陷检测 无损检测 直接转化 处理器 励磁 磁场 采集 | ||
1.一种复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述系统包括:二维运动平台(1)、恒定磁场源(2)、交变磁场源(3)、磁光传感器(4)、交直流电源(5)、处理器(6);
恒定磁场源(2)设于二维运动平台(1)的上方,恒定磁场源(2)与二维运动平台(1)之间可放置待检测工件(7);
二维运动平台(1)用来放置待检测工件(7),并可带动待检测工件(7)沿水平面进行二维运动;
交变磁场源设于恒定磁场源(2)的外侧,交变磁场源(3)与交直流电源(5)连接;
磁光传感器(4)设于恒定磁场源(2)的磁场范围内;磁光传感器(4)和处理器(6)连接;
磁光传感器(4)将磁场信息变为磁光图像传递给处理器(6);处理器(6)对磁光图像进行处理,实现无损检测。
2.根据权利要求1所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述的恒定磁场源(2)的结构为“U”形结构;恒定磁场源(2)的U形机构的开口朝下,磁光传感器(4)设于恒定磁场源(2)的U形开口端的开口内。
3.根据权利要求2所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,所述的交变磁场源(3)为“U”形结构,设置于恒定磁场源(2)U形结构外侧,使得恒定磁场源(2)的U形结构与交变磁场源的U形结构重叠,且二者处于同一竖直平面内。
4.根据权利要求3所述的复合磁场磁光成像无损检测系统,其特征在于,交变磁场源(3)由硅钢片和铜线绕制而成;铜线的两端分别与交直流电源(5)的正负极连接。
5.一种应用于权利要求1-4任一项所述的复合磁场磁光成像无损检测系统的检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1:利用复合场对待检测工件进行励磁,复合磁场是恒定磁场和交变磁场共同激励形成的;
S2:通过磁光传感器,对待检测工件的磁光图像进行采集,并将磁光图像信息传输至处理器;
S3:处理器运用卷积神经网络对磁光图像进行缺陷检测;
S4:将检查结果可视化,传递给监控人员。
6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,S3包括以下步骤:
S3.1:样本标定;
S3.2:建立预测模型:预测模型采用6个卷积层,经预处理后的磁光图像将化为19×19×50的矩阵;
设输入图像分辨率为n*m,将输入图像转化为601*601*3作为CNN输入层,CCN模型中有如下参数:
f[l]:卷积核的尺寸;
s[l]:每一步跨几格;
卷积核的数量;
其中[l]代表着第l层;
l层维度为:
其中,本模型中为本层高度,为本层宽度,可用n[l]表示;
第l层卷积核可以表示为:
其中19×19表示将图像分为19×19个目标框,50=5×(5+5),其中第一个5表示每个目标框可以检测五个目标物,第二个5是指可以检测5种缺陷,每个缺陷由5种信息表示,五种信息分别为:出现概率,缺陷中心横坐标,缺陷中心纵坐标、缺陷宽度、缺陷长度;
S3.3:初始化权值,对每层的卷积核进行初始化;
S3.4:利用标定好的样本对模型进行训练,并获得高准确率检测试件缺陷的模型;
S3.5:利用训练好的模型对传输进来的磁光图像实现实时缺陷检测。
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