[发明专利]一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器在审

专利信息
申请号: 201910740120.8 申请日: 2019-08-12
公开(公告)号: CN110568053A 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 姚博文;李宇波;张睿;穆卫锋 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N27/60 分类号: G01N27/60;G01N33/487
代理公司: 33200 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 场效应管 裸露 传感结构 漏极 源极 传感器阵列 传感器芯片表面 细胞膜电位 传感区域 培养液 传感器芯片 边缘布置 测量期间 非接触式 紧密阵列 生理活动 传感器 沟道 均布 离子 损伤 测量 腐蚀 细胞
【权利要求书】:

1.一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:

包括传感器芯片(16)、传感器阵列(18)、片上裸露源极(19)和片上裸露漏极(20);传感器芯片(16)表面中心设有传感区域(17),传感区域(17)中间布置有传感器阵列(18),传感器阵列(18)是由多个场效应管传感结构紧密阵列均布而成,传感器芯片(16)表面边缘布置有一个片上裸露源极(19)和多个片上裸露漏极(20),各个场效应管传感结构的源极(3)均连接到同一片上裸露源极(19),每个场效应管传感结构的漏极(2)连接到不同的片上裸露漏极(20)。

2.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的衬底(1)采用N型硅半导体。

3.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的场效应管传感结构包括衬底(1)、漏极(2)、源极(3)、金属氧化物薄膜(5)、顶栅(6)和背栅(4),衬底(1)底面开设有底凹槽,底凹槽中布置背栅(4),衬底(1)顶面的两侧均开设有顶凹槽,两侧的顶凹槽中分别布置漏极(2)和源极(3);漏极(2)和源极(3)之间的衬底(1)顶面上布置有金属氧化物薄膜(5),金属氧化物薄膜(5)内部存在有浮栅结构(12),金属氧化物薄膜(5)上表面布置顶栅(6),顶栅(6)上方设有第一金属层(8),顶栅(6)与第一金属层(8)之间通过连接层(7)相连,第一金属层(8)上方设有第二金属层(9),第一金属层(8)和第二金属层(9)组成平板电容;衬底(1)顶面上包裹布置氧化层(10),金属氧化物薄膜(5)、顶栅(6)、连接层(7)、第一金属层(8)、第二金属层(9)均布置于氧化层(10)中,氧化层(10)的顶面覆盖布置钝化层(11);钝化层(11)上有细胞培养液(14),待测细胞(13)位于细胞培养液(14)中,待测细胞(13)接触到钝化层(11),细胞培养液(14)内部设有参考电极(15);参考电极(15)和源极(3)引出接地。

4.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的传感区域(17)布置容器结构,容器结构内有细胞培养液(14)。

5.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的场效应管传感结构的漏极(2)均连接到传感器芯片(16)上的同一片上裸露源极(19),所述的场效应管传感结构的背栅(4)分别连接到传感器芯片(16)上各自不同的片上裸露源极(19)。

6.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的片上裸露源极(19)和片上裸露漏极(20)采用金Au金属。

7.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:所述的场效应管传感结构是在一块N型硅半导体的衬底(1)两侧上用光刻扩散形成两个凹槽,作为两个P型半导体区,每个P型半导体区布置金Au,然后在两个P型半导体区之间布置金属氧化物薄膜(5),金属氧化物薄膜(5)采用HFO2作为栅极绝缘层,金属氧化物薄膜(5)上布置顶栅(6),顶栅(6)存在双次耦合。

8.根据权利要求1所述的一种基于场效应管传感结构的非接触式细胞膜电位传感器,其特征在于:作为栅极绝缘层的金属氧化物薄膜(5)的HFO2采用原子层沉积工艺生长在衬底(1)上,可以精确控制高k栅极绝缘层的厚度;使用低压化学气相沉积(LPCVD)制造Si3N4的钝化层(11);片上裸露源极(19)和片上裸露漏极(20)采用电子束蒸发沉积法制作。

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