[发明专利]体积测量方法、装置和系统

权利要求书

1.一种体积测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

接收含有待测物体的场景的深度图，所述场景的深度图以预设第一水平面为基准；

从单点测距装置接收参考距离值，所述参考距离值为目标检测点与所述预设第一水平面之间的距离，所述目标检测点位于所述待测物体的上表面；

根据所述场景的深度图获取与所述目标检测点对应的目标深度；

获取补偿因子，根据所述补偿因子对所述场景的深度图的深度值进行补偿，以得到补偿深度值；所述补偿因子为所述参考距离值与所述目标深度的比值；

根据所述补偿深度值得到补偿的点云坐标，并根据所述补偿的点云坐标得到所述待测物体的体积。

2.如权利要求1所述的体积测量方法，其特征在于，所述单点测距装置包括激光测距仪，所述激光测距仪设置于所述预设第一水平面上，所述激光测距仪的检测光束竖直投射于所述待测物体的上表面。

3.如权利要求2所述的体积测量方法，其特征在于，所述根据场景的深度图获取与所述目标检测点对应的目标深度的步骤包括：

根据所述激光测距仪的位置信息从所述场景的深度图中提取所述目标检测点对应的深度值作为所述目标深度。

4.如权利要求1或2所述的体积测量方法，其特征在于，所述根据场景的深度图获取与所述目标检测点对应的目标深度的步骤包括：

从所述场景的深度图中获取与所述待测物体的上表面对应的深度数据；

获取平均深度值，并以所述平均深度值作为所述目标深度，所述平均深度值为所述深度数据的平均值。

5.如权利要求1或2所述的体积测量方法，其特征在于，所述待测物体为长方体，所述待测物体为水平放置；

则所述根据场景的深度图获取与所述目标检测点对应的目标深度的步骤包括：

根据所述场景的深度图得到所述待测物体的上表面的点云坐标，根据所述点云坐标采用最小二乘法拟合一目标平面；

获取所述目标平面与所述预设第一水平面之间的距离作为所述目标深度。

6.一种体积测量装置，其特征在于，包括深度图接收单元、参考距离值接收单元、目标深度获取单元、补偿单元、体积输出单元；

所述深度图接收单元用于接收含有待测物体的场景的深度图，所述场景的深度图以预设第一水平面为基准；

所述参考距离值接收单元用于从单点测距装置接收参考距离值，所述参考距离值为目标检测点与所述预设第一水平面之间的距离，所述目标检测点位于所述待测物体的上表面；

所述目标深度获取单元用于根据场景的深度图获取与所述目标检测点对应的目标深度；

所述补偿单元用于获取补偿因子，并用于根据所述补偿因子对所述场景的深度图的深度值进行补偿，以得到补偿深度值；所述补偿因子为所述参考距离值与所述目标深度的比值；

所述体积输出单元用于根据所述补偿深度值得到补偿的点云坐标，并根据所述补偿的点云坐标得到所述待测物体的体积。

7.如权利要求6所述的体积测量装置，其特征在于，所述单点测距装置包括激光测距仪，所述激光测距仪设置于所述预设第一水平面上，所述激光测距仪的检测光束竖直投射于所述待测物体的上表面；

则所述目标深度获取单元用于根据所述激光测距仪的位置信息从所述场景的深度图中提取所述目标检测点对应的深度值作为所述目标深度。

8.如权利要求6或7所述的体积测量装置，其特征在于，所述目标深度获取单元还用于从所述场景的深度图中获取与所述待测物体的上表面对应的深度数据；

所述目标深度获取单元还用于获取平均深度值，并以所述平均深度值作为所述目标深度，所述平均深度值为所述深度数据的平均值。