[发明专利]深空测控干涉测量大口径天线指向标校方法及装置

权利要求书

1.一种深空测控干涉测量大口径天线指向标校方法，其特征在于，包括：

计算固定大口径天线和目标大口径天线指向多个标校射电源的指向修正量，其中，固定大口径天线的指向固定，目标大口径天线的指向采用步进模式调整；

其中，指向一个标校射电源的指向修正量按照如下方式确定：固定大口径天线接收第一信号，目标大口径天线经过步进调整接收不同的第二信号，确定第一信号和不同的第二信号之间的干涉相位的信噪比，对步进量和不同的信噪比进行拟合插值计算，确定最大信噪比对应的指向修正量；

按照通用天线指向误差模型，根据多个标校射电源的指向修正量拟合得到大口径深空干涉测量天线指向修正模型参数；

在进行实际深空测控时，根据所述指向修正模型参数对大口径深空干涉测量天线的指向进行标校；

按照如下方式对步进量和不同的信噪比进行拟合插值计算：

以z、e为自变量，A_snr为函数，进行二维曲面拟合，求取函数值峰值点对应的自变量，自变量为方位向修正量z_δ、俯仰向e_δ修正量；

其中，

其中，z＝[z1,z2,z3,z4,z5]表示方位向步进对应的向量；

e＝[e1,e2,e3,e4,e5]表示俯仰向步进对应的向量；

Z_δ＝[z_δ1,z_δ2......z_δM]；E_δ＝[z_e1,z_e2......z_eM]，M为标校射电源的个数。

2.如权利要求1所述的深空测控干涉测量大口径天线指向标校方法，其特征在于，步进量按照如下方式确定：

其中，θ_{A_step}为方位向步进长；θ_{E_step}为俯仰向步进长；θ为天线波束宽度；λ为波长，单位米；D为天线口径，单位米。

3.如权利要求1所述的深空测控干涉测量大口径天线指向标校方法，其特征在于，信噪比按照如下方式确定：

其中，SNR为信噪比；ρ_max为分辨率函数的峰值；δ_inv为分辨率函数影响因子；N为子积分周期数；T_int为积分时间，F_s为采样带宽。

4.一种深空测控干涉测量大口径天线指向标校装置，其特征在于，包括：

指向修正量计算模块，用于计算固定大口径天线和目标大口径天线指向多个标校射电源的指向修正量，其中，固定大口径天线的指向固定，目标大口径天线的指向采用步进模式调整；

其中，指向一个标校射电源的指向修正量按照如下方式确定：固定大口径天线接收第一信号，目标大口径天线经过步进调整接收不同的第二信号，确定第一信号和不同的第二信号之间的干涉相位的信噪比，对步进量和不同的信噪比进行拟合插值计算，确定最大信噪比对应的指向修正量；

指向修正模型参数计算模块，用于按照通用天线指向误差模型，根据多个标校射电源的指向修正量拟合得到大口径深空干涉测量天线指向修正模型参数；

标校模块，用于在进行实际深空测控时，根据所述指向修正模型参数对大口径深空干涉测量天线的指向进行标校；

所述指向修正量计算模块具体用于：

按照如下方式对步进量和不同的信噪比进行拟合插值计算：

以z、e为自变量，A_snr为函数，进行二维曲面拟合，求取函数值峰值点对应的自变量，自变量为方位向修正量z_δ、俯仰向e_δ修正量；

其中，

其中，z＝[z1,z2,z3,z4,z5]表示方位向步进对应的向量；

e＝[e1,e2,e3,e4,e5]表示俯仰向步进对应的向量；

Z_δ＝[z_δ1,z_δ2......z_δM]；E_δ＝[z_e1,z_e2......z_eM]，M为标校射电源的个数。