[发明专利]一种氧化物晶体管显示结构在审
申请号: | 201910744601.6 | 申请日: | 2019-08-13 |
公开(公告)号: | CN110544724A | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | 李元行 | 申请(专利权)人: | 福建华佳彩有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/34 |
代理公司: | 35219 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 林祥翔;徐剑兵<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 351100 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透明氧化物半导体 公共电极 沟道区域 漏极区域 图案设置 像素电极 源漏极 改性 透明氧化物图案 氧化物半导体层 像素电极图案 氧化物晶体管 透明氧化物 导体 显示结构 导体化 延伸 制程 搭配 掺杂 图案 | ||
一种氧化物晶体管显示结构,在氧化物半导体层SE图案设置有TFT所需的源漏极和沟道区域,其中漏极区域延伸有作为像素电极PE的透明氧化物图案,所述透明氧化物半导体为改性导体化结构,还包括顶公共电极。区别于现有技术,本发明在SE图案设置有TFT所需的源漏极+沟道区域,其中漏极区域有延伸作为像素电极PE图案,对透明氧化物半导体做掺杂or treatment进行改性,实现透明氧化物导体化作为像素电极图案。搭配顶公共电极设计,array基板制程可以减少1‑2道光罩。
技术领域
本发明涉及新的显示晶体管设计,尤其涉及一种能够减少基板所需的制程光罩数,缩减制作成本的氧化物晶体管设计。
背景技术
IGZO是一种含有铟、镓和锌的非晶氧化物,载流子迁移率是非晶硅的20~30倍,可以大大提高TFT对像素电极的充放电速率,提高像素的响应速度,具备更快的面板刷新频率,可实现超高分辨率TFT-LCD。同时,现有的非晶硅生产线只需稍加改动即可兼容IGZO制程,因此在成本方面较低温多晶硅(LTPS)更有竞争力。传统a-Si或IGZO TFT有两种常见结构:ESL(etch stop layer)和BCE(Back channel etch),虽然ESL结构相对BCE结构多了一道ES制程,但因为半导体层IGZO沟道区域未受到SD层刻蚀时的损伤,画素区域TFT电学特性均一性更收敛,是获得高分辨率、高稳定性IGZO显示面板的首选。
由于IGZO TFT器件相对低温多晶硅TFT拥有更优越的Ioff,画素TFT只需要单栅极就可抑制漏电问题,有更利于TFT器件的小型化,实现超高分辨率TFT基板的制作。基于以上优点,氧化物半导体显示面板技术已被多家公司所采用的,并实现量产,例如夏普、中电熊猫和京东方等。而随着国内面板技术能力不断提升,如何缩减制程成本,在供过于求的市场趋势下将越发受关注。
发明内容
因此,需要提供一种新的的氧化物晶体管显示结构,达到改性并减少制程,降低制作成本的技术效果。
为实现上述目的,发明人提供了一种氧化物晶体管显示结构,在氧化物半导体层SE图案设置有TFT所需的源漏极和沟道区域,其中漏极区域延伸有作为像素电极PE的透明氧化物图案,所述透明氧化物半导体为改性导体化结构,还包括顶公共电极。
进一步地,还包括光阻保护层PR,所述光阻保护层设置在氧化物半导体层上。
进一步地,还包括蚀刻保护层ES,所述蚀刻保护层设置在氧化物半导体层上。
区别于现有技术,本发明在SE图案设置有TFT所需的源漏极+沟道区域,其中漏极区域有延伸作为像素电极PE图案,对透明氧化物半导体做掺杂or treatment进行改性,实现透明氧化物导体化作为像素电极图案。搭配顶公共电极设计,array基板制程可以减少1-2道光罩。
附图说明
图1为具体实施方式所述的ESL结构氧化物半导体LCD结构示意图;
图2为具体实施方式所述的BCE结构氧化物半导体LCD结构示意图;
图3为具体实施方式所述的氧化物晶体管结构示意图;
图4为具体实施方式所述的氧化物晶体管制程示意图;
图5为具体实施方式所述的氧化物晶体管结构示意图;
图6为具体实施方式所述的氧化物晶体管结构示意图;
图7为具体实施方式所述的氧化物晶体管结构示意图;
图8为具体实施方式所述的漏极SD技术图案结构示意图。
具体实施方式
为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合具体实施例并配合附图详予说明。
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