[发明专利]性能测试方法、装置及终端设备在审

专利信息
申请号: 201910745187.0 申请日: 2019-08-13
公开(公告)号: CN110445558A 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 陈泽锴 申请(专利权)人: 普联技术有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 郭鸿
地址: 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 射频性能测试 性能测试 终端设备 样机 计算机可读存储介质 测试技术领域 测试数据对应 测试数据 发送 申请
【权利要求书】:

1.一种性能测试方法,其特征在于,包括:

接收指定样机所发送的测试数据;

确定所述测试数据对应的接收信号强度;

根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。

2.如权利要求1所述的性能测试方法,其特征在于,所述根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,包括:

根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率计算所述指定样机对应的功率损耗数值;

根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果。

3.如权利要求2所述的性能测试方法,其特征在于,所述根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果,包括:

判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否在预设损耗范围内;

若所述指定样机对应的功率损耗数值不在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。

4.如权利要求3所述的性能测试方法,其特征在于,还包括:

若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。

5.如权利要求1所述的性能测试方法,其特征在于,所述接收指定样机所发送的测试数据,包括:

通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据。

6.如权利要求5所述的性能测试方法,其特征在于,在所述通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据之前,包括:

确定衰减器对应的衰减值;

对应地,所述根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,包括:根据所述衰减值、所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。

7.如权利要求6所述的性能测试方法,其特征在于,所述确定衰减器对应的衰减值,包括:

将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,所述预设条件为第一接收信号强度与第二接收信号强度的差值大于预设数值,所述第一接收信号强度为射频性能正常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度,所述第二接收信号强度为射频性能异常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度。

8.一种性能测试装置,其特征在于,包括:

数据接收单元,用于接收指定样机所发送的测试数据;

强度确定单元,用于确定所述测试数据对应的接收信号强度;

测试结果生成单元,用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。

9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

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