[发明专利]一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置

说明书

本发明公开了一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置，属于纳米材料检测设备领域，包括：实验系统，包括用于放置待测透气纳米膜的实验台、设置在所述实验台上的多个排气管、位于所述实验台上方的固定板和设置在所述固定板上的多个进气管，供气系统，包括安装在所述实验台上的气体发生装置，所述供气系统用于给所述进气管供气；以及检测系统，包括安装在所述排气管上的激光粒子计数器和流量计，本发明设置有多个排气管和进气管，能够对同一张待测透气纳米膜的多个位置进行检测，获取多组试验结果，避免偶然性，减小误差且无需实验人员将待测透气纳米膜切割，在检测过程中，方便实验人员集中检查，减低实验人员的工作量。

技术领域

本发明涉及纳米材料检测设备领域，特别涉及一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置。

背景技术

纳米膜材料是以纳米级别原料为主要或次要原料经过加工制备而成的复合薄片，通常具有透气的特点，由于其材料本身粒径较小，比表面积较大等特点，导致很多纳米膜成形后较易脱落，所以测定纳米膜中纳米粒子材料的脱落数量就显得比较重要；就目前来看，真正测定纳米膜中纳米粒子材料脱落量的方法并不多，常规的测定膜状材料上掉粉的很多方法都主要是针对大颗粒类物质；例如纸张的掉毛、掉粉测定，或者一些较易脱落的薄膜；从测定装置来说，主要是通过测定脱落前后的重量差为主，这类测定方法需要高精度的分析天平来称量，并且方法误差较大，特别是针对数量级较小的纳米膜材料的脱落基本没有办法读数，增加了测定的难度，为此开发一种能够精准测定纳米材料复合膜上纳米材料脱落情况的方法就显得越来越重要；

申请号为201620760708.1的专利公开了一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置，属于纳米材料研究技术领域。该检测装置包括：实验系统，包括试样台和排气管，试样台具有中空的检测腔，并且试样台上设有用于固定待测透气纳米膜的夹持部，使透气纳米膜覆盖于检测腔的开口端，排气管一端与检测腔连通，另一端用于排气；供气系统，包括气体发生装置和气体净化装置，气体发生装置通过供气管连接气体净化装置，气体净化装置用于向试样台上的待测透气纳米膜提供净化气体，使透气纳米膜表面的纳米粒子脱落进入检测腔内；以及检测系统，包括激光粒子计数器，用于对检测腔内的纳米粒子进行计数，其存在一些问题，使用前需要实验人员手动将待测透气纳米膜切成合适的大小，装置仅能对一个待测透气纳米膜进行检测，检测结果存在偶然性、有误差影响结果，虽然可以通过使用多个相同的装置对同一品种的待测透气纳米膜进行检测，但需要实验人员对多个装置进行相同的操作、在检测过程中还需要实验人员依次检查状态，增加了实验人员的工作量。

发明内容

本发明提供一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置，可以解决现有技术中的透气纳米膜表面材料脱落检测装置存在不能同时对多组样品进行检测的问题。

一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置，包括：

实验系统，包括用于放置待测透气纳米膜的实验台、设置在所述实验台上的多个排气管、位于所述实验台上方的固定板和设置在所述固定板上的多个进气管，所述进气管位于所述排气管的正上方，所述进气管用于往所述排气管内输送气体；

供气系统，包括安装在所述实验台上的气体发生装置，所述供气系统用于给所述进气管供气；以及

检测系统，包括安装在所述排气管上的激光粒子计数器和流量计，所述激光粒子计数器用于对排气管内的纳米粒子进行计数，所述流量计用于测量所述排气管内空气的流量以及流速。

较佳的，还包括驱动装置，所述进气管可在所述驱动装置的作用下靠近所述排气管或远离所述排气管。

较佳的，所述排气管上方设置有连接柱，所述固定板上开设有多个通槽，所述通槽内设置有与所述连接柱螺纹连接的螺纹块，所述连接柱的底部连接有连接筒，所述连接筒的底端开设有开口，所述进气管的一端固定连接在所述连接筒内，所述连接筒的底部固定连接有环形刀片，所述环形刀片用于将待测透气纳米膜切割为圆形。