[发明专利]连接器转接头和连接器测试系统

说明书

本发明公开一种连接器转接头，包括：第一转接头，适于与连接器的第一端直接电连接，使得所述连接器的第一端可通过所述第一转接头电连接至第一线缆并通过所述第一线缆电连接至测试设备；和第二转接头，适于与连接器的第二端直接电连接，使得所述连接器的第二端可通过所述第二转接头电连接至第二线缆并通过所述第二线缆电连接至所述测试设备。在本发明中，连接器的每端可直接与转接头连接，无需经由电路板与转接头连接，从而可消除电路板对连接器的测试数据的影响，提高连接器的测试数据的准确性，并且降低了成本。

技术领域

本发明涉及一种连接器转接头和包括该连接器转接头的连接器测试系统。

背景技术

在现有技术中，同轴射频连接器通常包括外部导体、设置在外部导体中的中心导体、以及设置在外部导体和中心导体之间的绝缘体。在设计同轴射频连接器的过程中，需要对设计出的同轴射频连接器的性能进行测试。同轴射频连接器的两端只适于与电路板或专用的电子部件电连接，不能直接与同轴射频线缆电连接。因此，在现有技术中，为了将同轴射频连接器连接至相应的测试设备，需要将同轴射频连接器的两端分别焊接至一个电路板上，在每个电路板上设置有一个连接头，该连接头通过同轴射频线缆电连接至测试设备。这样，同轴射频连接器依次通过电路板、连接头和同轴射频线缆被电连接至测试设备。

但是，现有的这种测试方案很难完全去除电路板对各个测试项目的影响，导致测试结果和测试数据往往不准确。而且同轴射频连接器不能从电路板上拆卸下来，导致同轴射频连接器不能被重复利用，成本非常高。

发明内容

本发明的一个目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。

根据本发明的一个方面，提供一种连接器转接头，包括：第一转接头，适于与连接器的第一端直接电连接，使得所述连接器的第一端可通过所述第一转接头电连接至第一线缆并通过所述第一线缆电连接至测试设备；和第二转接头，适于与连接器的第二端直接电连接，使得所述连接器的第二端可通过所述第二转接头电连接至第二线缆并通过所述第二线缆电连接至所述测试设备。

根据本发明的一个实例性的实施例，所述连接器为同轴射频连接器，所述第一线缆和所述第二线缆为同轴射频线缆。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第一转接头包括：第一外转接导体，其一端适于与所述连接器的外部导体的一端电连接，另一端适于与所述第一线缆的外导体电连接；和第一中心转接导体，设置在所述第一外转接导体中，其一端适于与所述连接器的中心导体的一端电连接，另一端适于与所述第一线缆的内导体电连接。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第一外转接导体的一端适于螺纹连接至所述连接器的外部导体的一端上。

根据本发明的另一个实例性的实施例，在所述连接器的外部导体的一端的外壁上形成有外螺纹，在所述第一外转接导体的一端的内壁上形成有与所述外螺纹配合的内螺纹。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第一中心转接导体的一端适于与所述连接器的中心导体的一端插接在一起。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第一中心转接导体的一端呈筒状，所述连接器的中心导体的一端呈柱状，所述连接器的中心导体的一端适于插入到所述第一中心转接导体的一端中。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第一转接头还包括第一绝缘体，所述第一绝缘体设置在所述第一外转接导体和所述第一中心转接导体之间，用于将所述第一中心转接导体保持在所述第一外转接导体中。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述第二转接头包括：第二外转接导体，其一端适于与所述连接器的外部导体的另一端电连接，另一端适于与所述第二线缆的外导体电连接；和第二中心转接导体，设置在所述第二外转接导体中，其一端适于与所述连接器的中心导体的另一端电连接，另一端适于与所述第二线缆的内导体电连接。