[发明专利]一种金属裂纹电磁探伤成像仪在审
申请号: | 201910748915.3 | 申请日: | 2019-08-14 |
公开(公告)号: | CN110286145A | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 孙春光;曾星星;何敏 | 申请(专利权)人: | 上海海事大学 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01N27/82;G01N21/88 |
代理公司: | 上海互顺专利代理事务所(普通合伙) 31332 | 代理人: | 成秋丽 |
地址: | 201306 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激励线圈 放大 电磁探伤 激励信号 检测线圈 金属裂纹 成像仪 图像 信号采集电路 信号放大电路 信号切换电路 电导率 二值化处理 归一化处理 测量矩形 感应电压 灰度矩阵 灰度图像 激励电路 检测电压 接收检测 连通区域 外接矩形 显示模块 控制器 次磁场 预设 裂缝 采集 发送 施加 金属 检测 转化 展示 | ||
本发明提供一种金属裂纹电磁探伤成像仪,包括:激励电路,用于生成并发送激励信号;信号切换电路,用于按照预设顺序,从多个线圈中选择其中一个线圈作为激励线圈,对激励线圈施加激励信号;信号采集电路,包括:用于接收二次磁场范围内而产生感应电压的至少一个检测线圈,信号放大电路接收检测线圈的检测电压并进行放大,获得放大结果;控制器,接收每一个线圈作为激励线圈时检测线圈上采集到电压的放大结果,计算电导率分布值,转化为灰度矩阵图像,归一化处理后得到,然后对该灰度图像二值化处理,求取图像内连通区域的外接矩形,并测量矩形尺寸,获取裂纹;显示模块,接收并展示所获取的裂。旨在通过线圈的电压改变实现金属裂缝的检测。
技术领域
本发明涉及金属探伤技术领域,特别是涉及一种金属裂纹电磁探伤成像仪。
背景技术
在金属材料的整个生命周期中总会出现或大或小的缺陷,虽然明显的大范围缺陷能够及时被发现,但细微裂纹和内部空泡缺陷检测难度较大,容易被忽视,这样的缺陷会随时间积累逐渐增大,因此,需要对金属的缺陷及时进行检测。
目前对金属缺陷检测方法有渗透检测、磁粉检测等,需要对金属表面进行处理,效率较低。
因此,提供一种操作简单的金属探伤方案是亟待解决的技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点及实际应用需求,本发明的目的在于提供一种金属裂纹电磁探伤成像仪及装置,旨在通过线圈的电压改变实现金属裂缝的检测,且能够显示,便于给用户直观的观看体验。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种金属裂纹电磁探伤成像仪,包括:
激励电路,用于生成并发送激励信号;
信号切换电路,用于按照预设顺序,从多个线圈中选择其中一个线圈作为激励线圈,并对所述激励线圈施加激励信号,将所述多个线圈中的其他线圈依次作为激励线圈;
信号采集电路,包括:用于接收二次磁场范围内而产生感应电压的至少一个检测线圈,其中,所述二次磁场为为待检测金属平面在一次磁场的影响下所产生的磁场,并获取所述检测线圈的检测电压,其中,每一个线圈的轴线均垂直于待检测金属平面;
信号放大电路,用于接收所述检测线圈的检测电压并进行放大,获得放大结果;
控制器,接收每一个线圈作为激励线圈时检测线圈上采集到电压的放大结果,然后对该结果归一化处理,得到相应的测量向量和灵敏度矩阵,并采用图像重建算法求出被测金属电导率的空间分布,将所得电导率分布值,转化为灰度矩阵图像,归一化处理后得到,然后对该灰度图像二值化处理,求取图像内连通区域的外接矩形,并测量矩形尺寸,获取裂纹;
显示模块,接收并展示所获取的裂纹。
进一步地,所述信号切换电路,包括:激励信号选择电路,
所述激励信号选择电路包括:第一驱动芯片,多个继电器,所述第一驱动芯片的输入端与所述控制器相连,所述第一驱动芯片的每一输出端与每一个继电器线圈的一个电压输入端相连,继电器线圈的另一电压输入端为高电平,所述激励信号与开关的一端相连,每一个线圈一端接地,线圈的另一端与继电器的常开触点相连;
其中,在继电器线圈连接的一个电压输入端为低电平时,继电器公共端吸附至常开触点,开关导通,所述第一芯片的型号为ULN2003。
进一步地,所述信号采集电路包括:第二驱动芯片,多个继电器,所述第二驱动芯片的输入端与所述控制器相连,所述第二驱动芯片的每一输出端与每一个继电器线圈的一个电压输入端相连,继电器线圈的另一电压输入端为高电平;
所述放大电路的输入端与继电器公共端相连,每一个线圈一端接地,线圈的另一端与继电器的常开触点相连;
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