[发明专利]适配测试方法、装置及电子设备在审
申请号: | 201910749852.3 | 申请日: | 2019-08-14 |
公开(公告)号: | CN112446850A | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 周小群;陈琴;张亚男;李子乐;倪伟 | 申请(专利权)人: | 阿里巴巴集团控股有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T3/40;G06K9/46;G06K9/62;G06F11/36;G06F9/451 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 南海燕 |
地址: | 英属开曼群岛大开*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种适配测试方法,其特征在于,包括:
获得基准图像以及待检图像;
通过计算所述待检图像与所述基准图像之差,确定所述待检图像以及所述基准图像中包括的个性化资源位,并通过生成图像掩模的方式对所述个性化资源位内的图像内容进行遮盖处理;
将遮盖处理后的待检图像与所述基准图像进行特征对比,根据特征比对结果确定目标页面在待测试设备中的适配结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述获得基准图像以及待检图像,包括:
通过执行脚本的方式对所述目标页面在基准设备以及待测试设备中的展示情况进行截屏,分别获得多屏图像;
将基准设备中获得的单屏图像作为单屏基准图像,待测试设备中获得的对应屏次的单屏图像作为单屏待检图像,以便以单屏图像为单位对所述基准图像以及所述待检图像进行特征对比。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:
在以单屏图像为单位对所述基准图像以及所述待检图像进行特征对比之前,分别将所述基准设备以及待测试设备中获得的多屏图像进行拼接处理,得到全景基准图像以及全景待检图像;
将所述全景基准图像以及所述全景待检图像进行所述遮盖处理之后,进行所述特征对比,如果适配结果显示适配成功,则触发进行所述以单屏图像为单位的基准图像与待检图像的特征对比。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
在进行截屏时,相邻屏次的截屏图像之间存在重合区域;
所述拼接处理包括:
通过对相邻屏次的截屏图像中目标区域内进行关键特征点提取,获得至少一组匹配成功的关键特征点,其中每组关键特征点中包括两个关键特征点,分别为前一屏与后一屏中所述目标区域内相似度符合条件的特征点;
针对同一组关键特征点,根据前一屏中的关键特征点与所述前一屏底部之间的距离,以及根据后一屏中的关键特征点与所述后一屏顶部之间的距离,确定从所述前一屏到后一屏的页面滑动距离;
根据所述页面滑动距离,对所述前一屏与后一屏的截屏图像进行拼接。
5.根据权利要求1或3所述的方法,其特征在于,
所述遮盖处理包括:
计算获得待检图像与基准图像的差值图像,并进行二值化以及去噪处理;
通过限制差异图像的外接矩形面积确定所述个性化区域内差值图像的面积,并根据所述差值图像的面积生成所述图像掩模,并利用所述图像掩模对所述个性化资源位内的图像内容进行遮盖处理。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:
通过对所述单屏待检图像进行分析,对所述目标页面在所述待测试设备中显示时可能存在的异常问题进行检测。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
所述对所述目标页面在所述待测试设备中显示时可能存在的异常问题进行检测,包括:
通过预先设定的目标对象深度学习模型对所述单屏待检图像进行分析,确定是否存在资源位内内容为空,或者缺少资源位的异常问题。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
所述对所述目标页面在所述待测试设备中显示时可能存在的异常问题进行检测,包括:
从所述单屏图像中识别连续的资源位组模块;
通过判断相邻的资源位组模型之间的距离是否小于阈值,确定是否存在资源位组内容为空的异常问题。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,
所述从所述单屏图像中识别连续的资源位组模块,包括:
获得所述目标页面在所述待测试设备中展示时的文档对象模型DOM元素信息;
从所述DOM元素信息中筛选出符合资源位组标题特征的目标区域作为所述资源位组模块。
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