[发明专利]可多荧光信号同时检测的光学分析装置

权利要求书

1.一种可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，包括激发光源(100)、激发光光路系统(200)、二向色镜(300)、至少两个检测光路系统以及光学检测器件，其中：

所述检测光路系统的数量与被测多荧光标记物(800)的荧光物质种类一致；

所述激发光源(100)，用于提供激发光束；

所述激发光光路系统(200)，用于将所述激发光源(100)提供的激发光束转化为单色光，并在所述二向色镜(300)的反射下，使得所述单色光按照预设角度射入到所述被测多荧光标记物(800)表面，所述被测多荧光标记物(800)在所述单色光的作用下发射出与所述荧光物质种类一致的的荧光信号；

所述二向色镜(300)，用于反射单色光、透过激发产生的荧光；

至少两个所述检测光路系统，所述检测光路系统依次置于所述被测多荧光标记物(800)的反射光路上，用于先后收集所述被测多荧光标记物(800)激发的荧光信号，并转为为平行光，传输给外界的所述光学检测器件。

2.根据权利要求1所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述检测光路系统包括1号检测光路系统(400)、2号检测光路系统(500)、3号检测光路系统(600)、n-1号检测光路系统以及n号检测光路系统，所述1号检测光路系统(400)、所述2号检测光路系统(500)、所述3号检测光路系统(600)、所述n-1号检测光路系统以及所述n号检测光路系统依次置于所述被测多荧光标记物(800)的反射光路上。

3.根据权利要求2所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述1号检测光路系统(400)包括荧光1号滤光片(401)、荧光1号平凸透镜(402)，所述荧光1号滤光片(401)设置于所述二向色镜(300)的上方，用于过滤所述被测多荧光标记物(800)表面激发出来的荧光信号后出射到所述荧光1号平凸透镜(402)；

所述荧光1号平凸透镜(402)设置于所述荧光1号滤光片(401)上方，且凸面朝向所述荧光1号滤光片(401)，用于聚焦反射光到所述光学检测器件上。

4.根据权利要求3所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述光学检测器件设置为荧光1号检测探头(701)。

5.根据权利要求2所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述n号检测光路系统包括荧光n号滤光片、荧光n号平凸透镜以及荧光n号二向色镜；

所述荧光n号二向色镜倾斜置于所述被测多荧光标记物(800)的反射光路上，所述荧光n号滤光片和所述荧光n号平凸透镜依次置于所述荧光n号二向色镜的反射光路上；

所述荧光n号滤光片直接靠近所述荧光n号二向色镜设置或者间隔所述荧光n号平凸透镜设置，所述荧光n号滤光片用于过滤所述被测多荧光标记物(800)表面激发出来的荧光信号；

所述荧光n号平凸透镜的凸面朝向所述荧光n号二向色镜，用于聚焦反射光到所述光学检测器件上。

6.根据权利要求5所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述荧光n号二向色镜与所述被测多荧光标记物(800)的反射光路入射方向呈45度。

7.根据权利要求5所述的可多荧光信号同时检测的光学分析装置，其特征在于，所述光学检测器件设置为荧光n号检测探头。