[发明专利]一种提高平面激光点云测距精度的方法有效
申请号: | 201910753161.0 | 申请日: | 2019-08-15 |
公开(公告)号: | CN110471074B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 |
发明(设计)人: | 路静峰;洪溪森;林坚 | 申请(专利权)人: | 岭纬科技(厦门)有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481;G01S7/48 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361000 福建省厦门市厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 平面 激光 测距 精度 方法 | ||
1.一种提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1.控制激光雷达进行工作并获得点云,计算点云中各个点的空间坐标;
步骤2.根据每个点的空间坐标和点云的垂直开放角γ与水平的开放角θ,转换为二维矩阵元素,并获得每个点的在此矩阵内的位置坐标;
步骤3.在此二维矩阵中,按照步骤2的每个点的位置坐标,搜索每一个有效元素A,以每个有效元素A为中心,创建出一个G*G大小的窗口,G为奇数,窗口内包含若干个有效元素K1,K2,…,Kn;
步骤4.确定每个窗口内的中心点A是否为离散点;
步骤5.输出为非离散点的中心点A,获得精确距离;
所述步骤2具体为:根据每个点的空间坐标Ki (x,y,z)和点云垂直开放角γ与水平的开放角θ,转换为二维矩阵MatrixL内的元素,并获得每个点的在此矩阵内的位置坐标KM I,此二维矩阵预先设定的分辨率为K*N;所述步骤中计算各点的空间坐标方法如下:点云中的一点设为K,获得点K和笛卡尔坐标系原点O的连线和OY的夹角α,并获得点K在ZOX平面的投影点B和坐标系原点O的连线与OZ坐标轴的夹角β,按照公式:l OK =Tof*C/2获得点K和笛卡尔坐标系原点O的直线距离,其中C为光速;利用夹角α、夹角β计算点K的笛卡尔空间坐标;所述点K的笛卡尔空间坐标计算公式为x=l OK *cos(90°-α)*sinβ;z=l OK *cos(90°-α)*cosβ;y=l OK *cosα;所述步骤2中二维矩阵内各个点的坐标KM i 具体计算过程如下:以下公式中,W代表二维矩阵垂直于Z轴,在水平开放角范围内的x轴方向的长度,H代表该二维矩阵在垂直开放角范围内的y轴方向的长度,xyz为各个点空间坐标值,W=2*z*tg(θ/2);H=2*z*tg(γ/2);Resolution_x=W/(K-1);Resolution_y=H/(N-1);Row=W/2-0.5+x/Resolution_x;Column=N/2-0.5+y/Resolution_y,坐标KM i 为(row,column)。
2.根据权利要求1所述的提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述步骤1具体为:控制激光雷达进行工作,并旋转振镜角度,获取多个点,得到点云;将点云根据振镜旋转角度和每个点的Tof计算,获得每个点的笛卡尔坐标系的空间坐标K i (x,y,z)。
3.根据权利要求1所述的提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述步骤3具体为:在此二维矩阵MatrixL中,按照步骤2的每个点的位置坐标,从左到右从上到下搜索每一个有效元素A,以每个有效元素A为中心,创建出一个G*G大小的窗口,G为奇数,窗口内包含若干个有效元素K1,K2,…,Kn。
4.根据权利要求3所述的提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述步骤4具体为:在每个G*G大小的窗口内,设定过滤点数阈值AK和距离阈值DK,搜索窗口内的每一个有效元素,并计算窗口内中心点A到每个有效元素点K1,K2,…,Kn的Tof差,设为T j ,如果T j <DK,则计数器Count=Count+1,直到最后一个有效点,比较Count和AK,若CountAK,则认定此中心点为非离散点,该点的flag=true。
5.根据权利要求4所述的提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述步骤4还包括记录除中心点A以外的所有满足条件T j <DK的点的z k ,统计该点的个数,并设为sk,利用公式 将窗口中心点A空间坐标(x,y,z)的z替换为 获得窗口与激光雷达的准确距离。
6.根据权利要求4所述的提高平面激光点云测距精度的方法,其特征在于,所述步骤4还包括记录除中心点A以外的所有满足条件T j <DK的点的Tof平均值,通激光雷达在获得该点时振镜的旋转角度计算,获得A的平均空间坐标 获得窗口与激光雷达的准确距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于岭纬科技(厦门)有限公司,未经岭纬科技(厦门)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910753161.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光量子测角望远镜及测角方法
- 下一篇:雷达测距方法、装置及终端设备