[发明专利]基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法在审
申请号: | 201910756088.2 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN110470619A | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 介邓飞;吴爽;魏萱;叶大鹏 | 申请(专利权)人: | 福建农林大学 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/359;G06N3/12 |
代理公司: | 35100 福州元创专利商标代理有限公司 | 代理人: | 丘鸿超;蔡学俊<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 350002 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 西瓜 近红外光谱 西瓜成熟度 边界校正 光谱特性 光谱提取 经济利益 无损检测 遗传算法 数据集 未成熟 最大化 分辨 样本 采摘 成熟 | ||
1.一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:获取西瓜的可见/近红外光谱;
步骤S2:对步骤S1获取的光谱提取峰值peak1和峰值peak2;
步骤S3:计算RPP值和/或NDIP值:
RPP=peak1/peak2;
NDIP=(peak1+peak2)/(peak1-peak2);
步骤S4:对多个西瓜样本执行步骤S1-步骤S3,对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练,通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子CRPP和/或CNDIP;
步骤S5:通过以下模型:Correct-RPP=R±CRPP和/或Correct-NDIP=N±CNDIP,确定用于标记西瓜的成熟度的最佳边界值。
2.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S2中,所述峰值peak1和峰值peak2提取所依据的光谱分别为漫透射光谱在720-740nm和802-805nm出现的吸收峰。
3.根据权利要求2所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:所述峰值peak1和峰值peak2为光谱曲线的局部最大值。
4.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S1中,在西瓜周部紧密接触布设聚氨酯嵌入式光纤,并在西瓜赤道周围设置12个卤钨灯,并通过光谱仪获取可见/近红外光谱。
5.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,步骤S4具体包括以下步骤:
步骤S41:选定多个常数作为RPP和/或NDIP的初始边界校正因子;
步骤S42:结合校准集的RPP值和/或NDIP值及对应的标签,在训练的过程中保留对边界处理较好的初始边界校正因子,经过多次训练筛选出最佳的初始边界校正因子作为边界校正因子CRPP和/或CNDIP。
6.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,在步骤S5中,对Correct-RPP值和/或Correct-NDIP值进行一维搜索,获得三个不同成熟度相邻组之间的最佳边界值,将西瓜分类为四种成熟度。
7.根据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-RPP值,三个最佳边界值分别为:1.21±0.02,0.96±0.02和0.68±0.02。
8.据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-NDIP值,三个最佳边界值分别为:0.18±0.01,0±0.01和-0.1±0.01。
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