[发明专利]基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法在审

专利信息
申请号: 201910756088.2 申请日: 2019-08-16
公开(公告)号: CN110470619A 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 介邓飞;吴爽;魏萱;叶大鹏 申请(专利权)人: 福建农林大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/359;G06N3/12
代理公司: 35100 福州元创专利商标代理有限公司 代理人: 丘鸿超;蔡学俊<国际申请>=<国际公布>
地址: 350002 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 西瓜 近红外光谱 西瓜成熟度 边界校正 光谱特性 光谱提取 经济利益 无损检测 遗传算法 数据集 未成熟 最大化 分辨 样本 采摘 成熟
【权利要求书】:

1.一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1:获取西瓜的可见/近红外光谱;

步骤S2:对步骤S1获取的光谱提取峰值peak1和峰值peak2

步骤S3:计算RPP值和/或NDIP值:

RPP=peak1/peak2

NDIP=(peak1+peak2)/(peak1-peak2);

步骤S4:对多个西瓜样本执行步骤S1-步骤S3,对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练,通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子CRPP和/或CNDIP

步骤S5:通过以下模型:Correct-RPP=R±CRPP和/或Correct-NDIP=N±CNDIP,确定用于标记西瓜的成熟度的最佳边界值。

2.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S2中,所述峰值peak1和峰值peak2提取所依据的光谱分别为漫透射光谱在720-740nm和802-805nm出现的吸收峰。

3.根据权利要求2所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:所述峰值peak1和峰值peak2为光谱曲线的局部最大值。

4.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S1中,在西瓜周部紧密接触布设聚氨酯嵌入式光纤,并在西瓜赤道周围设置12个卤钨灯,并通过光谱仪获取可见/近红外光谱。

5.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,步骤S4具体包括以下步骤:

步骤S41:选定多个常数作为RPP和/或NDIP的初始边界校正因子;

步骤S42:结合校准集的RPP值和/或NDIP值及对应的标签,在训练的过程中保留对边界处理较好的初始边界校正因子,经过多次训练筛选出最佳的初始边界校正因子作为边界校正因子CRPP和/或CNDIP

6.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,在步骤S5中,对Correct-RPP值和/或Correct-NDIP值进行一维搜索,获得三个不同成熟度相邻组之间的最佳边界值,将西瓜分类为四种成熟度。

7.根据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-RPP值,三个最佳边界值分别为:1.21±0.02,0.96±0.02和0.68±0.02。

8.据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-NDIP值,三个最佳边界值分别为:0.18±0.01,0±0.01和-0.1±0.01。

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