[发明专利]一种相对激光测厚仪

权利要求书

1.一种相对激光测厚仪，包括工作台，所述工作台具有用于放置测量件的测量件放置区域，所述测量件放置区域设有缺口；其特征在于：

所述相对激光测厚仪还包括两个白光共焦位移传感器，每个所述白光共焦位移传感器包括一个激光测头，分别属于两个所述白光共焦位移传感器的两个所述激光测头相对且分别垂直设置在所述缺口的两侧。

2.根据权利要求1所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述白光共焦位移传感器还包括处理装置和光纤，所述光纤连接所述处理装置和所述激光测头；所述处理装置包括光源、分光器和受光元件，所述激光测头包括针孔和透镜组件；

所述光源用于提供白光，所述光纤将所述白光传输到所述激光测头，所述白光穿过所述透镜组件，所述透镜组件使所述白光色散并使不同波长的光在所述激光侧头外侧在光轴不同位置聚焦；聚焦在所述测量件表面的光反射穿过所述针孔，所述光纤将穿过所述针孔的反射光传输到所述处理装置，所述反射光经过所述分光器由所述受光元件接受。

3.根据权利要求2所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述相对激光测厚仪还包括显示装置，所述显示装置用于显示根据所述受光元件接受的光计算得到的所述测量件的厚度。

4.根据权利要求3所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述显示装置还用于显示两个所述白光共焦位移传感器分别测得的所述测量件相对于基准面的厚度。

5.根据权利要求2所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述光源为白色LED。

6.根据权利要求2所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述针孔和所述透镜组件沿所述白光的传播方向依次设置。

7.根据权利要求1至6任一项所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述相对激光测厚仪包括支架，两个所述激光测头连接在所述支架上，所述支架上设有导轨，所述工作台可沿所述导轨移动。

8.根据权利要求7所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述工作台水平设置，所述导轨在水平方向上延伸，两个所述激光侧头连接在所述工作台的上下两侧。

9.根据权利要求7所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述工作台连接有滑块，所述滑块与所述导轨配合。

10.根据权利要求1至6任一项所述的一种相对激光测厚仪，其特征在于：

所述缺口周围设有垫板，所述垫板用于放置所述测量件。