[发明专利]利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法

权利要求书

1.利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法，其特征在于，所述方法包括：先利用压片法分别将黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按比例混合压片，采用太赫兹时域光谱系统分别获取压片样品在0.50-2.50THz范围内的太赫兹光谱数据；先利用平板介质模型分别计算出压片样品的折射率与吸收系数，再利用有效介质模型分别计算出目标成分黄曲霉毒素B1、B2的折射率与介电常数，然后，分析比较黄曲霉毒素B1、B2压片样品的折射率与吸收系数以及黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品的折射率与介电常数，为待测样品中黄曲霉毒素B1、B2的鉴定提供参考依据；最后，将黄曲霉毒素B1和B2粉末纯品替换成待测样品，按照上述方法对待测样品进行测定和鉴别；

包括以下步骤：

(1)分别取黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按照1:20的质量比混合压片，得到压片样品的厚度分别为1.371mm、1.360mm；

(2)利用太赫兹时域光谱系统，采用透射测量模式在氮气环境下采集没有样品时的太赫兹光谱数据作为参考信号，放入压片样品后在相同条件下分别采集压片样品太赫兹光谱数据作为样品信号，对时域光谱进行傅里叶变换，得到不同压片样品的振幅谱和相位谱；

先利用平板介质模型分别计算出压片样品在0.5-2.5THz范围内的折射率与吸收系数：

其中，式(1)为折射率计算公式，n(ω)为折射率，Φ(ω)为样品信号和参考信号傅里叶变换频谱比值的相位，c、ω、d分别表示光速、角频率和压片样品的厚度；

式(2)为吸收系数计算公式，α(ω)为吸收系数，d为压片样品的厚度，ρ(ω)为样品信号和参考信号傅里叶变换频谱比值的振幅；

再利用有效介质模型分别计算出目标成分黄曲霉毒素B1、B2在0.50-2.50THz范围内的折射率与介电常数：

其中，式(3)为介电常数计算公式，ε为混合压片的介电常数，ε₁为聚乙烯粉末的介电常数，ε₂为黄曲霉毒素B1或B2的介电常数，f₂为黄曲霉毒素B1或B2的体积因子；

通过比较得出，在0.50-1.58THz范围内，黄曲霉毒素B1压片样品的吸收系数比黄曲霉毒素B2压片样品的吸收系数小，而在1.58-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的吸收系数比黄曲霉毒素B2压片样品的吸收系数大；在0.50-2.02THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的折射率比黄曲霉毒素B2压片样品的折射率小，而在2.02-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的折射率比黄曲霉毒B2压片样品的折射率大；

在0.50-2.02THz范围内目标成分黄曲霉毒素B1的折射率比目标成分黄曲霉毒素B2的折射率小，而在2.02-2.50THz范围内目标成分黄曲霉毒素B1的折射率比目标成分黄曲霉毒素B2的折射率大；在0.50-2.02THz范围内目标成分黄曲霉毒素B1的介电常数实部比目标成分黄曲霉毒素B2的介电常数实部小，而在2.02-2.50THz范围内目标成分黄曲霉毒素B1的介电常数实部比目标成分黄曲霉毒素B2的介电常数实部大；

(3)用待测样品替换步骤(1)中的黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品，然后按照步骤(1)～(2)的方法对待测样品进行测定和鉴别；

所述聚乙烯粉末的平均粒度≤10μm。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，太赫兹时域光谱系统的测定条件为：20～25℃，相对湿度10％。