[发明专利]高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法及其光学系统有效
申请号: | 201910760516.9 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN110554512B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 冯晓宇;宗肖颖;杜建祥;侯闹;董科;李文广 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G02B27/62 | 分类号: | G02B27/62;G01B11/24;G01B9/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 胡健男 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高精度 二次 椭球 反射 光轴 引出 方法 及其 光学系统 | ||
1.高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于步骤如下:
1)准备光学干涉仪(1)、标准球面反射镜(2)、被测离轴椭球面镜反射镜(3)、第一小孔靶标(4)、第二小孔靶标(5)、小立方镜(6)、经纬仪(7);将光学干涉仪(1)设置在标准球面反射镜(2)的一侧,将被测离轴椭球面镜反射镜(3)设置在标准球面反射镜(2)的另一侧;
2)将标准球面反射镜(2)的球心与被测离轴非球面反射镜(3)的焦点重合;
3)调整被测离轴椭球面反射镜(3)的俯仰、倾斜角度以及水平和竖直方向平移,调整标准球面反射镜(2)的水平和竖直方向平移,使得光学干涉仪(1)出射的球面波经过被测离轴椭球面镜反射镜(3)第一次反射至标准球面反射镜(2)、再经过标准球面反射镜(2)反射回被测离轴椭球面镜反射镜(3),再由被测离轴椭球面镜反射镜(3)第二次反射至光学干涉仪(1),形成干涉条纹;干涉条纹的波前的赛德尔系数的慧差项数值小于设定的慧差项阈值,球差系数值小于设定的球差系数阈值,其中设定的慧差项阈值、球差系数阈值均与光学干涉仪(1)发出的球面波的波长λ有关,完成光学系统的搭建;
4)在步骤3)光学系统的搭建完成后,利用第一小孔靶标(4)找到被测离轴椭球面镜反射镜(3)的长焦点位置;利用第二小孔靶标(5)找到离轴椭球面镜短焦点位置;
5)再将干涉仪切换至出射平面波,调整光学干涉仪(1)的俯仰、倾斜角度,使得出射的平面波正好通过第一小孔靶标(4)和第二小孔靶标(5),此时平行光即为离轴椭球面镜反射镜(3)光轴方向;
6)利用小立方镜(6),将光学干涉仪(1)出射的平面波方向引到小立方镜(6)朝向光学干涉仪(1)的面,记为A面,的法线上,用经纬仪(7)瞄小立方镜(6)的A面法线,记录经纬仪(7)的读数,得到被测离轴椭球面反射镜(3)光轴方向的水平和俯仰角度;
7)使被测离轴椭球面反射镜(3)的光轴与被测离轴椭球面反射镜(3)的背面法线建立角度关系;
8)根据步骤7)建立的角度关系,将被测离轴椭球面反射镜(3)光轴引至被测离轴椭球面反射镜(3)的背面法线,实现光轴引出。
2.根据权利要求1所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:小孔靶标(4)和小孔靶标(5)完全相同。
3.根据权利要求1所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:将标准球面反射镜(2)的球心与被测离轴非球面反射镜(3)的焦点重合,具体为:调整两者姿态使得干涉条纹波前的像差最小。
4.根据权利要求1所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:步骤1)中还要建立三维正交坐标系O-XYZ,原点O位于光学干涉仪(1)出射球面波的焦点处,X轴正方向指向焦点处的上方,Y轴正方向指向光学干涉仪(1),右手定则确定Z轴。
5.根据权利要求1所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:设定的慧差项阈值为0.05λ,设定的球差系数阈值为0.01λ。
6.根据权利要求1或2所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:利用第一小孔靶标(4)找到被测离轴椭球面镜反射镜(3)的长焦点位置,具体为:调整第一小孔靶标(4)的三维平移使得光学干涉仪(1)出射球面波的焦点成像刚好在第一小孔靶标(4)的小孔中心。
7.根据权利要求1或2所述的高精度二次离轴椭球面反射镜光轴引出方法,其特征在于:利用第二个小球靶标(5)找到离轴椭球面镜短焦点位置,具体为:首先移开标准球面反射镜(2),光学干涉仪(1)出射的球面波进过被测离轴非球面反射镜(3)反射后会聚为一点,调整第二个小球靶标(5)的三维平移使得此会聚点成像刚好在第二小孔靶标(5)的小孔中心,即干涉仪出射的球面波打到离轴椭球面镜后会聚点的位置。
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