[发明专利]测量系统以及带有孔的轴的制造方法在审
申请号: | 201910760643.9 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN110953996A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 渡边正浩;内海幸治;藤原茂吉;大室佑介;茅山真士 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 系统 以及 带有 制造 方法 | ||
本发明提供能够高精度地测量带有孔的轴的壁厚的系统以及制造方法。本发明的测量系统具有测定器、测量控制装置、与所述测量控制装置连接的测距装置。所述测定器具有:用于固定在所述加工装置的工具轴、刀具台或者尾座的基座;与所述基座连接的第一杆及第二杆;固定于各杆且将测定光照射于所述被测定物的第一测定头及第二测定头。而且,所述测量控制装置执行以下操作:(1)从所述测距装置获取从所述第一测定头到所述被测定物的孔的内周面为止的距离I,(2)从所述测距装置获取从所述第二测定头到所述被测定物的外周面为止的距离O,(3)基于所述距离I、距离O以及所述第一测定头与所述第二测定头的间隔来计算所述被测定物的壁厚。
技术领域
本发明涉及空心(也称作贯通孔)轴、带有盲孔的轴等带有孔的轴的物体的测定方法、测量系统、以及该物体的制造方法
背景技术
以往,在产生了使空心轴或者带有盲孔的轴的内周轴心与外周轴心高精度地一致的用途的情况下,即便轴端能够由千分尺等进行测定,测定设备也进入不到轴的中心部,仍需要花费利用超声波来测定壁厚等的工时来测量轴心的一致度。
作为能够测定空心轴的内径的装置,具有专利文献1所公开如下的方法:将保持于杆的前端的测定头插入工件,对在光学上使用激光和相机来测定对象物的内剖面形状的测定头、或者使接触式的位移计转向而能够扫描内剖面的测定头进行扫描。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2013-164273号公报
发明要解决的课题
在专利文献1的技术中,仅能够测定空心轴的内径,无法测定空心轴的壁厚。
此外,作为现有的方法,存在以下课题:在以从外周射入超声波而在内周进行反射而得的超声波的传播时间来直接测定壁厚的技术中,超声波的传播速度因材质的标准离散而发生变动,因此具有0.1mm数量级的误差。而且,还存在如下课题:为了将超声波导入到材料中,需要将表面加工得光滑,为了测定壁厚,需要多余的工序。
本发明鉴于上述实际情况,其目的在于提供能够高精度地测量带有孔的轴的壁厚的系统以及带有孔的轴的制造方法。其它目的将由实施例予以明确。
发明内容
用于解决课题的方法
本发明的测量系统具有测定器、测量控制装置、与所述测量控制装置连接的测距装置。所述测定器具有:用于固定于所述加工装置的工具轴、刀具台或者尾座的基座;与所述基座连接的第一杆及第二杆;以及固定于各杆且将测定光照射于所述被测定物的第一测定头及第二测定头。而且,所述测量控制装置(1)从所述测距装置获取从所述第一测定头到所述被测定物的孔的内周面为止的距离I,(2)从所述测距装置获取从所述第二测定头到所述被测定物的外周面为止的距离O,(3)基于所述距离I、距离O、以及所述第一测定头与所述第二测定头的间隔来计算所述被测定物的壁厚。
发明效果
根据本发明,可以提供能够高精度地测量带有孔的轴的壁厚的系统和高精度地制造带有孔的轴的方法。
附图说明
图1是示出本发明中的测量系统的结构的图。
图2是放大了本发明中的测量系统的测定头部的图。
图3是放大了本发明中的测量系统的测定头部的另一结构例的图。
图4是示出本发明中的测量系统的测定头部与工件之间的各种距离的定义的图。
图5是示出本发明中的测距装置的输出数据的例子的图。
图6是示出本发明中的测定动作的流程的图。
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