[发明专利]传感器参数的标定方法及装置、存储介质和电子装置有效
申请号: | 201910760696.0 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN110470333B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 纳恩博(常州)科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 江舟 |
地址: | 213000 江苏省常州市武进区常武*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 参数 标定 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
1.一种传感器参数的标定方法,其特征在于,所述方法包括:
通过预设数量的传感器采集目标设备自身的特征数据,其中,所述预设数量的传感器设置在所述目标设备上;
利用所述特征数据进行所述预设数量的传感器的参数标定;
其中,所述方法还包括:
检测所述预设数量的传感器中传感器之间的相对位置是否发生变化;
在检测到所述预设数量的传感器中传感器之间的相对位置发生变化后,触发再次执行通过预设数量的传感器采集目标设备自身的特征数据,以及利用所述特征数据进行所述预设数量的传感器的参数标定的步骤;
其中,所述检测所述预设数量的传感器中传感器之间的相对位置是否发生变化,包括:
获取所述预设数量的传感器中任意两个传感器采集目标设备的指定特征的指定特征数据,以及获取所述任意两个传感器的参数标定结果;
确定所述指定特征或所述指定特征所在平面在所述任意两个传感器中各传感器坐标系中的空间表示;
根据所述空间表示对所述任意两个传感器的参数标定结果进行标定检查。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述特征数据进行预设数量的传感器的参数标定,包括:
从所述特征数据中提取出与所述目标设备的指定特征对应的指定特征数据,其中,所述指定特征数据由所述预设数量的传感器中任意两个传感器所采集的;
根据所述指定特征数据确定所述指定特征或所述指定特征所在平面,在所述任意两个传感器中各传感器对应的坐标系的描述信息;
通过预设算法对所述描述信息处理进行所述任意两个传感器的参数标定。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,从所述特征数据中提取出与所述目标设备的指定特征对应的指定特征数据,包括:
在所述任意两个传感器与所述目标设备的指定特征之间的相对位置为可变的情况下,获取所述任意两个传感器采集多组指定特征数据;
在所述任意两个传感器与所述目标设备的指定特征之间的相对位置为固定的情况下,获取所述任意两个传感器采集的一组指定特征数据,所述一组指定特征数据为所述任意两个传感器在同一时刻采集到的。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述特征数据进行预设数量的传感器的参数标定,包括:
从所述特征数据中提取出与所述目标设备的指定特征对应的指定特征数据,其中,所述指定特征数据由所述预设数量的传感器中预定类型传感器所采集的;
根据所述指定特征数据进行所述预定类型传感器的内参标定。
5.一种传感器参数的标定装置,其特征在于,包括:
采集模块,用于通过预设数量的传感器采集目标设备自身的特征数据,其中,所述预设数量的传感器设置在所述目标设备上;
标定模块,用于利用所述特征数据进行所述预设数量的传感器的参数标定;
其中,所述装置还包括:
检测模块,用于检测所述预设数量的传感器中传感器之间的相对位置是否发生变化;
触发模块,用于在检测到所述预设数量的传感器中传感器之间的相对位置发生变化后,再次触发通过预设数量的传感器采集目标设备自身的特征数据,以及利用所述特征数据进行所述预设数量的传感器的参数标定的步骤;
其中,所述检测模块包括:
获取单元,用于获取所述预设数量的传感器中任意两个传感器采集目标设备的指定特征的指定特征数据,以及获取所述任意两个传感器的参数标定结果;
第二确定单元,用于确定所述指定特征或所述指定特征所在平面在所述任意两个传感器中各传感器坐标系中的空间表示;
检查单元,用于根据所述空间表示对所述任意两个传感器的参数标定结果进行标定检查。
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