[发明专利]一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质

说明书

本申请公开了一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质，该方法包括：基于产品设计模型确定待评估风险信号，判断待评估风险信号是否具有周期性；若是，则确定待评估风险信号对应的频谱幅值；获取辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离；利用频谱幅值、电流强度以及距离计算得到待评估风险信号的辐射强度；根据辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度，实现了辐射风险的定量评估；且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号，无需等到产品生产后期才进行辐射测试，有效降低了后期由于辐射风险较大进行整改所耗费的人力物力。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，更具体地说，涉及一种辐射风险评估方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。

背景技术

EMC(Electro Magnetic Compatibility，电磁兼容性测试)是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。EMC设计与EMC测试是相辅相成的，EMC设计的好坏需要通过EMC测试进行衡量。

EMC测试中的辐射测试一般在产品生产的后期进行，当产品定型或生产完成后发现辐射风险较高等不达标的问题，需要花费人力、物力去修改设计或采用补救的措施。另外，在现有的辐射测试中仅仅实现了对于风险进行定性的评估，因此，如何实现风险的定量评估并减少人力物力的浪费是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种辐射风险评估方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，实现了辐射风险的定量评估，有效降低了产品后期整改所耗费的人力物力成本。

为实现上述目的，本申请提供了一种辐射风险评估方法，包括：

基于产品设计模型确定待评估风险信号，并判断所述待评估风险信号是否具有周期性；

若是，则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值；

获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离；

利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度；

根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。

可选的，所述利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度，包括：

基于第一公式利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度；所述第一公式为：

其中，S为所述辐射强度；Cn为所述频谱幅值；I为所述电流强度；R为所述距离。

可选的，所述确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值，包括：

获取所述待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率；

利用第二公式、所述信号占空比、所述信号周期以及所述信号频率确定所述待评估风险信号的频谱幅值；所述第二公式为：

其中，cn为所述频谱幅值；A为风险信号时域的电压峰值；n为谐波次数；τ为所述信号占空比；T为所述信号周期；f为所述信号频率。

可选的，所述获取所述待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率，包括：

通过查询预设参数库获取所述待评估风险信号对应的信号占空比、信号周期及信号频率。

可选的，所述根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果，包括：