[发明专利]投影图像校准方法、装置及投影设备有效
申请号: | 201910763891.9 | 申请日: | 2019-08-19 |
公开(公告)号: | CN112399158B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 余新;曹婷;康瑞;吴超;李屹 | 申请(专利权)人: | 深圳光峰科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N9/31 | 分类号: | H04N9/31 |
代理公司: | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人: | 韩绍君 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 投影 图像 校准 方法 装置 投影设备 | ||
1.一种投影图像校准方法,其特征在于,所述方法包括:
获取位于出射平面的三个或三个以上的测距传感器采集的待校准投影图像的空间深度信息,所述空间深度信息为所述测距传感器构成的出射平面到投影平面的距离信息;
基于所述空间深度信息以及所述测距传感器之间的相对位置关系确定投影平面信息;
基于出射平面信息以及所述投影平面信息获取所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵;
根据所述旋转矩阵对所述待校准投影图像的投影画面进行透视变换,以将所述投影画面调整为目标形状。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于出射平面信息以及所述投影平面信息获取所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵的步骤包括:
基于出射平面信息以及所述投影平面信息获取所述投影平面相对于所述出射平面之间的旋转角度;
基于所述旋转角度计算所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述旋转角度计算所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵的步骤包括:
获取所述投影平面的法向量;
获取所述出射平面的法向量;
获取所述出射平面的法向量变换至所述投影平面的法向量的旋转角度;
基于所述旋转角度计算所述出射平面的法向量与所述投影平面的法向量之间的旋转矩阵;
将所述旋转矩阵作为所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述出射平面的法向量变换至所述投影平面的法向量的旋转角度的步骤包括:
获取所述出射平面的法向量在二维平面上的投影向量与对应坐标轴的正方向的夹角;
将基于三维坐标轴的不同坐标轴对应的所述夹角作为所述出射平面的法向量变换至所述投影平面的法向量的旋转角度。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述旋转矩阵对所述待校准投影图像的投影画面进行透视变换的步骤包括:
根据所述旋转矩阵对所述待校准投影图像的投影画面的像素进行透视变换。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述空间深度信息以及所述测距传感器之间的相对位置关系确定投影平面信息的步骤包括:
获取设置于投影设备的预设数量的所述测距传感器的位置坐标;
基于所述位置坐标确定与所述投影设备对应的出射平面;
基于所述出射平面以及所述空间深度信息获取投影平面信息。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预设数量包括3个及以上,所述预设数量的测距传感器不处于同一直线上。
8.根据权利要求1-7任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所述进行透视变换后的投影画面进行双线性插值处理。
9.一种投影图像校准装置,其特征在于,运行于投影设备,所述装置包括:
数据采集单元,用于获取位于出射平面的三个或三个以上的测距传感器采集的待校准投影图像的空间深度信息,所述空间深度信息为所述测距传感器构成的出射平面到投影平面的距离信息;
数据处理单元,用于基于所述空间深度信息以及所述测距传感器之间的相对位置关系确定投影平面信息;
所述数据处理单元,还用于基于出射平面信息以及所述投影平面信息获取所述投影平面相对于所述出射平面的旋转矩阵;
投影单元,用于根据所述旋转矩阵对所述待校准投影图像的投影画面进行透视变换,以将所述投影画面调整为目标形状。
10.一种投影设备,其特征在于,包括数据采集模块、投影模块、一个或多个处理器以及存储器;
一个或多个程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序配置用于执行权利要求1-8任一所述的方法。
11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有程序代码,其中,在所述程序代码被处理器运行时执行权利要求1-8任一所述的方法。
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