[发明专利]校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质

说明书

本公开涉及一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质，该方法包括：针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。即在判断出触控模组的异常触控区域后，基于获取的触控参数修正异常触控区域内的触控节点的触控参数，使其位于预设正常范围内，进而减小触控模组异常现象出现的概率。

技术领域

本公开涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质。

背景技术

随着科技的进步，越来越多的手机采用触控屏，人们可以直接通过点击触控屏操作手机。

相关技术中，在使用带有触控屏的手机时，触控屏可能出现灵敏度降低、冻屏或自动误触等异常现象，进而影响手机的正常使用。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种校准电容式触控模组的方法，所述触控模组包括多个触控区域，所述触控区域包括多个触控节点，所述方法包括：

针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；

基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；

如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。

可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：

判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值，如果所述数量大于或等于所述第一阈值，则所述触控区域为异常触控区域。

可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：

判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值，且满足预设条件的触控节点的第二数量是否大于第二阈值，所述预设条件包括相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值；

如果所述第一数量大于或等于第一阈值，且所述第二数量大于第二阈值，则所述触控区域为异常触控区域。

可选地，所述获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数，包括：

获取表征所述触控节点电容大小的参数值；

将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。

可选地，所述将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数之前，所述方法还包括：

获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值；

计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所述基准值。

可选地，所述基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数之后，所述方法还包括：

判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域；

如果修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域，基于所述基准值对所述异常触控区域内的触控节点的修正后的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。

可选地，所述基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，包括：