[发明专利]参考物质位置分配方法及样本分析系统

说明书

本发明具体涉及一种参考物质位置分配方法及样本分析系统，本发明提供的参考物质位置分配方法，包括：获取预设的待分配位置的参考物质的信息，待分配位置的参考物质的信息包括参考物质的类型；接收为待分配位置的参考物质分配位置的指令；根据参考物质的类型为待分配位置的参考物质选择相应类型的试管架；获取与待分配位置的参考物质类型对应的试管架上试管位的占用信息，占用信息包括：被占用和空闲；为每个待分配位置的参考物质分配空闲的试管位，建立参考物质与试管位的位置信息的对应关系，位置信息包括：试管架标识和试管位编号；本发明提供的参考物质位置分配方法能够自动为参考物质分配位置，无须人工手动分配位置，操作简便，使用方便。

技术领域

本发明涉及医疗设备技术领域，具体涉及一种参考物质位置分配方法及样本分析系统。

背景技术

样本分析系统包括控制设备、样本移送机构及至少一种分析仪，样本移送机构用于运送放置有试管的试管架，试管内存放有样本。不同种类的分析仪可以检测不同的检测项目。例如，生化分析仪用于检测样本中的肝功、肾功、血糖和血脂等相关检测项目。免疫分析仪用于检测抗原或抗体等相关检测项目。

控制设备用于控制样本移送机构将待测样本移送至相应的分析仪，从而自动化的完成检测项目。

由分析仪测试出来的样本结果，是随着标准限的设置不同而变化的。因此，需要对分析仪进行校准，校准时使用校准品进行校准测试。为了控制样本的测定误差，需要用稳定的参考材料做重复检测，也就是使用质控品进行质控测试。

进行校准或质控时，需要用户先在相应的软件界面为校准品或质控品设置位置，例如用户在软件界面上设置校准品1在1号校准架的第1个试管位。用户根据设置的位置，将校准品1放入1号校准架的第1个试管位。测试时，分析仪即可知1号校准架的第1个试管位放的是何种校准品，从而执行相应的检测过程。

当样本分析系统首次装机时，在配置检测项目后，需要对所有的检测项目进行校准和质控。这时，用户需要在软件界面上为大量的校准品和质控品设置位置，操作复杂、使用不方便。

且在校准品或质控品更换批次时，也需要对分析仪进行校准或质控。此时，也需要用户在软件界面上人工识别出空闲的位置，再为校准品或质控品分配并设置位置，工作量大，操作复杂，使用不方便。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种能够为校准品/质控品自动分配位置的参考物质位置分配方法及样本分析系统。

为了实现上述技术问题，在一个实施例中，本发明提供了一种参考物质位置分配方法，应用于样本分析系统，所述样本分析系统包括样本移送机构和样本分析仪，

所述样本移送机构用于运送放置有试管的试管架，所述试管架上设有多个试管位，每个所述试管位用于放置对应的所述试管，所述试管用于存放待测物，所述待测物包括参考物质，所述试管架上设有试管架标识，所述试管架上的每个所述试管位均有对应的编号，

所述样本分析仪用于对所述待测物进行相应项目的检测，

所述参考物质位置分配方法包括：

获取预设的待分配位置的参考物质的信息，所述待分配位置的参考物质的信息包括所述参考物质的类型；

接收为所述待分配位置的参考物质分配位置的指令；

根据所述参考物质的类型为所述待分配位置的参考物质选择相应类型的试管架；

获取与所述待分配位置的参考物质类型对应的试管架上试管位的占用信息，所述占用信息包括：被占用和空闲；

为每个所述待分配位置的参考物质分配空闲的试管位，建立已分配空闲试管位的参考物质与所述试管位的位置信息的对应关系，所述位置信息包括：试管架标识和试管位编号。