[发明专利]玻璃析晶温度的测试方法

说明书

本发明涉及玻璃性能检测领域，公开了一种玻璃析晶温度的测试方法，该方法包括：S1.将玻璃颗粒进行热处理；S2.将经热处理后的玻璃颗粒进行表面蚀刻处理；S3.利用偏光显微镜测试玻璃的析晶温度。本发明提供的玻璃析晶温度的测试方法，可消除纸样过程中带入杂质对析晶温度测试的影响，同时通过对析晶的表面进行蚀刻处理，更清晰明显地观测析晶形貌，避免析晶太小而产生漏判，极大地提高了析晶温度的测试结果的可信性。

技术领域

本发明涉及玻璃性能检测领域，具体涉及一种玻璃析晶温度的测试方法。

背景技术

清晰度高的产品能够提供良好的视觉体验，从而更能吸引终端客户，而玻璃基板作为电子显示设备的关键性基础材料，与产品显示的清晰度密切相关。随着终端用户对电子产品显示效果体验要求的提升，对于玻璃基板质量的要求也越来越高。

玻璃析晶是玻璃生产工艺中最常见的缺陷之一，始终是玻璃生产厂家关注的重点。在玻璃生产制造过程中，析晶温度作为重要的物理性能参数之一，需要根据其温度范围制定合理的工艺参数，避免玻璃析晶的产生。

梯温炉法作为析晶温度的测试方法之一，其不仅可以测试析晶上限和下限温度，还可以了解不同温度下的析晶程度和析晶形貌，为解决生产线产品中的析晶缺陷来源提供重要依据，现有的玻璃生产厂家大多数采用梯温炉法进行析晶温度的测试。

然而，梯温炉法在制样过程中容易引入杂质，杂质又会诱导析晶，容易引起误判，影响析晶温度的测试结果；另外，热处理后的析晶样品在显微镜下进行分析时，处于临界温度的析晶数量少、析晶形态较小，容易漏判。因此需要有一种观测明显且测量准确的检测方法来检测玻璃的析晶温度。

发明内容

本发明的目的是为了克服现技术存在的上述问题，本发明提供了一种玻璃析晶温度的测试方法，该方法包括：

S1.将玻璃颗粒进行热处理；

S2.将经热处理后的玻璃颗粒进行表面蚀刻处理；

S3.利用偏光显微镜测试玻璃的析晶温度。

优选地，所述玻璃颗粒经下述方法制得，

(1)将待测玻璃进行熔融、澄清，得到玻璃液；

(2)将玻璃液在水中进行水淬处理，并筛分得到所述玻璃颗粒。

优选地，所述玻璃颗粒的粒径为1-7mm，更优选为2-5mm。

优选地，热处理过程中，所述玻璃颗粒的保温时间为2-48h，更优选为12-24h。

优选地，所述热处理为多阶段热处理。

优选地，所述热处理为二阶段热处理。

优选地，所述二阶段热处理的条件包括：

第一阶段：以8-12℃/min升温速率升至700-900℃；

第二阶段：以4-6℃/min升温速率升至1180-1330℃，并保温2-48h。

优选地，热处理温度为热处理的最高点温度时，所述玻璃的黏度为10^3.2-10^4.0dPa·s，更优选为10^3.5-10^3.8dPa·s。

优选地，所述蚀刻的厚度为1-15μm，更优选为2-10μm。

优选地，所述蚀刻的蚀刻液为HF和H₂SO₄的混合溶液。

优选地，混合溶液中，所述HF的浓度为2-6重量％，所述H₂SO₄的浓度为4-10重量％。