[发明专利]一种阵列基板及其制作方法、显示面板在审
申请号: | 201910766043.3 | 申请日: | 2019-08-19 |
公开(公告)号: | CN110534475A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 马伟欣;陈彩琴 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L27/32 |
代理公司: | 44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) | 代理人: | 黄威<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无机膜 组层 非显示区域 填充开口 源漏极 开口 基底 有机平坦层 显示区域 阵列基板 制作 覆盖 显示面板 有机材料 制作工艺 平坦层 图案化 掩膜版 填充 申请 | ||
本申请涉及一种阵列基板及其制作方法、显示面板,该阵列基板的制作方法包括:提供基底,基底包括显示区域以及位于显示区域周边的非显示区域;在基底上形成无机膜组层;在无机膜组层上制作开口,并形成图案化的源漏极层,开口位于非显示区域,源漏极层不覆盖且不填充开口;在无机膜组层上形成有机平坦层,有机平坦层覆盖源漏极层,且填充并覆盖开口。通过这种方式,在位于非显示区域的无机膜组层上制作开口,并在后续平坦层制作工艺中填充开口,减少了采用有机材料填充开口的工艺,进而节省了该工艺的掩膜版,有利于降低成本。
【技术领域】
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列基板及其制作方法、显示面板。
【背景技术】
有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light emitting diode,简称AMOLED)面板因其高对比度、广色域、低功耗、可折叠等特性,逐渐成为新一代显示技术。
目前,柔性AMOLED的阵列基板制程包括10~12道工艺,比刚性AMOLED的阵列基板制程多出2~3道工艺。其中,这多出的工艺主要是对位于非显示弯折区上的应力较差、以及柔韧性不好的无机膜层进行刻蚀挖孔,并采用柔韧性较好的有机材料填充,以提高非显示弯折区的弯曲性能。
但是,上述柔性AMOLED的阵列基板制程存在工艺步骤多、以及成本高的问题。
【发明内容】
本申请的目的在于提供一种阵列基板及其制作方法、显示面板,以减少阵列基板的制程工艺,并降低成本。
为了解决上述问题,本申请实施例提供了一种阵列基板的制作方法,该阵列基板的制作方法包括:提供基底,基底包括显示区域以及位于显示区域周边的非显示区域;在基底上形成无机膜组层;在无机膜组层上制作开口,并形成图案化的源漏极层,开口位于非显示区域,源漏极层不覆盖且不填充开口;在无机膜组层上形成有机平坦层,有机平坦层覆盖源漏极层,且填充并覆盖开口。
其中,在无机膜组层上制作开口,并形成图案化的源漏极层步骤,具体包括:在无机膜组层上形成图案化的源漏极层;在无机膜组层未被源漏极层覆盖的区域上制作开口,开口位于非显示区域。
其中,开口包括在基底上层叠连通的第一孔和第二孔,在无机膜组层上制作开口的步骤,具体包括:通过曝光、刻蚀,在无机膜组层上制作具有第一预设深度的第一孔;通过曝光、刻蚀,经由第一孔,沿靠近基底的方向在无机膜组层上制作具有第二预设深度的第二孔,第二预设深度与第一预设深度之和等于无机膜组层的厚度。
其中,无机膜组层包括依次远离基底的缓冲层、第一栅绝缘层、第二栅绝缘层、以及层间介质层,在基底上形成无机膜组层的步骤,具体包括:在基底上沉积缓冲层;在缓冲层上沉积第一栅绝缘层;在第一栅绝缘层上沉积第二栅绝缘层;在第二栅绝缘层上沉积层间介质层。
其中,在基底上沉积缓冲层的步骤之后,还包括:在缓冲层上形成低温多晶硅层,低温多晶硅层位于显示区域,且第一栅绝缘层覆盖低温多晶硅层;在缓冲层上沉积第一栅绝缘层的步骤之后,还包括:在第一栅绝缘层上形成第一金属层,第一金属层位于显示区域,且第二栅绝缘层覆盖第一金属层;在第一栅绝缘层上沉积第二栅绝缘层的步骤之后,还包括:在第二栅绝缘层上形成第二金属层,第二金属层位于显示区域,且层间介质层覆盖第二金属层。
为了解决上述问题,本申请实施例还提供了一种阵列基板,该阵列基板包括:基底,基底包括显示区域以及位于显示区域周边的非显示区域;位于基底上的无机膜组层,无机膜组层上开设有开口,开口位于非显示区域;位于无机膜组层上的图案化的源漏极层,源漏极层不覆盖且不填充开口;位于无机膜层上的有机平坦层,有机平坦层覆盖源漏极层,且填充并覆盖开口。
其中,非显示区域包括弯折区以及位于弯折区侧边的非弯折区,开口位于弯折区,且为多个。
其中,多个开口在弯折区上呈阵列分布。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造