[发明专利]检测机构在审

专利信息
申请号: 201910767473.7 申请日: 2019-08-20
公开(公告)号: CN110346672A 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 刘博;潘磊;雷利军 申请(专利权)人: 深圳市蓝眼科技有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R1/04
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 杨鹏
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 安装结构 定位结构 更换机构 下针 可拆卸连接 料带 表面贴装技术 电子元件检测 精准度 保证
【说明书】:

发明的实施例提供了一种检测机构,涉及表面贴装技术领域。该检测机构包括更换机构、下针机构和测值针。测值针用于对料带上的电子元件进行测值。更换机构包括安装结构和定位结构,测值针安装于安装结构的一侧,定位结构设置于安装结构的另一侧,定位结构与下针机构可拆卸连接。本发明提供的检测机构能够对料带上的电子元件进行自动测值,保证对于电子元件检测的精准度和稳定性,同时也能通过更换机构和下针机构的可拆卸连接实现便于检测机构易于更换的目的。

技术领域

本发明涉及表面贴装技术领域,具体而言,涉及一种检测机构。

背景技术

SMT(表面贴装技术)行业在中国这几年可以说是飞速的发展。而在发展的过程中人们对产品的品质、结构框架要求不断地提高,表面贴装技术正在向无源元件的前进,表面贴装元件越来越小。

现阶段在SMT行业最为头痛的问题就是,电子元器件越来越多、尺寸越来越小,而品质越来越高,这就要求工厂在来料环节要严格把控质量。目前就大部分SMT工厂而言,需要人工对来料进行检测,具体流程:拿到待测物料盘,撕开封装塑胶模,在放大镜下取出待测料放到特定检测位置,再通过放大镜找准极性测值点,手持电桥测量表笔测值并记录。

通过人工手动地进行电子元器件进行检测,不仅降低了检测效率,同时会出现人工疲劳造成的检测误差,增大了不合格率,进而造成较多的成本浪费。

发明内容

本发明的目的包括,例如,提供了一种检测机构,其能够对料带上的电子元件进行自动测值,保证对于电子元件检测的精准度和稳定性,同时也能通过更换机构和下针机构的可拆卸连接实现便于检测机构易于更换的目的。

本发明的实施例可以这样实现:

本发明的实施例提供了一种检测机构,所述检测机构包括更换机构、下针机构和测值针。

所述测值针用于对料带上的电子元件进行测值。

所述更换机构包括安装结构和定位结构,所述测值针安装于所述安装结构的一侧,所述定位结构设置于所述安装结构的另一侧,所述定位结构与所述下针机构可拆卸连接。

可选择地,所述定位结构凸设于所述安装结构,所述下针机构上开设有与所述定位结构相适配的定位槽,所述定位结构伸入所述定位槽并与下针机构可拆卸连接。

可选择地,所述定位结构外侧设置第一定位面,所述定位槽内周壁设置第二定位面,当所述定位结构伸入所述定位槽并与所述下针机构连接时,所述第一定位面贴合于所述第二定位面。

可选择地,所述定位结构和所述定位槽均为锥形,所述第一定位面和所述第二定位面均为锥形面。

可选择地,所述下针机构上设置有卡持结构,所述卡持结构包括固定块和弹性块,所述固定块固定连接于所述下针机构,所述弹性块安装于所述固定块的一端并穿过所述定位槽的内侧壁伸入所述定位槽,所述弹性块能选择性地抵持于所述定位结构,或者当所述定位结构受到脱离所述定位槽的外力时松开所述定位结构。

可选择地,所述定位结构上开设有与所述弹性块相适配的卡槽,当所述定位结构与所述下针机构连接时,所述弹性块伸入所述卡槽并抵持于所述卡槽的内周壁。

可选择地,所述安装结构包括绝缘安装块和两个第一屏蔽结构,所述测值针的数量为两个。

两个所述第一屏蔽结构分别安装于所述绝缘安装块上相对的两侧,并与形成两个安装区。

所述定位结构安装于所述绝缘安装块或者第一屏蔽结构。

两个所述测值针分别设置于两个所述安装区并间隔设置。

可选择地,所述安装结构上相对的两侧分别开设有两个第一安装槽,两个所述第一安装槽的底壁上均开设有第二安装槽。

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