[发明专利]位置检测系统有效

专利信息
申请号: 201910772410.0 申请日: 2019-08-21
公开(公告)号: CN110857847B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 平野裕幸;冈祯一郎;安德洋介 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B7/02;G01B7/30
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种位置检测系统,具备:

第一磁体,具有在第一方向上着磁的磁化,并且形成包括第一磁力线的第一磁场;

第一软质强磁性体,沿着与所述第一方向正交的第二方向延伸,可以对所述第一磁体沿着所述第二方向直进移动,并且具有凹凸形状的第一外缘,所述第一外缘包括第一外缘部分和第二外缘部分,所述第一外缘部分在与所述第一方向和所述第二方向双方正交的第三方向上与第一磁体相距第一距离,所述第二外缘部分在所述第二方向上与所述第一外缘部分的位置不同且在所述第三方向上与第一磁体相距第二距离;

磁检测部,设置为相对所述第一磁体的位置维持一定,并且在所述第一软质强磁性体静止的状态下,所述第一磁力线在所述第一方向上通过所述磁检测部;

第二软质强磁性体,与所述第一软质强磁性体在所述第一方向上对置,沿着所述第二方向延伸,可以对所述第一磁体沿着所述第二方向以与所述第一软质强磁性体同步的方式直进移动,并且具有凹凸形状的第二外缘,所述第二外缘包括第三外缘部分和第四外缘部分,所述第三外缘部分在所述第三方向上与所述第一磁体相距第三距离,所述第四外缘部分在所述第二方向上与所述第三外缘部分的位置不同且在所述第三方向上与所述第一磁体相距第四距离;以及

第二磁体,形成包括第二磁力线的第二磁场,所述第二磁力线在所述第一方向上通过所述磁检测部,

所述磁检测部在所述第三方向上设置在所述第一磁体和所述第二磁体与所述第一软质强磁性体和所述第二软质强磁性体之间,

所述第一磁体与所述第二磁体在所述第二方向上相邻,

所述磁检测部在所述第二方向上配置在所述第一磁体与所述第二磁体之间。

2.根据权利要求1所述的位置检测系统,其中,

所述第一软质强磁性体的所述第一外缘,具有其在所述第三方向上与所述第一磁体的距离在所述第二方向上周期性变动的形状。

3.根据权利要求2所述的位置检测系统,其中,

所述第一软质强磁性体的所述第二方向的可能移动的长度,小于等于所述第一外缘的所述第二方向的1周期的长度。

4.根据权利要求2或权利要求3所述的位置检测系统,其中,

所述第一外缘包括连续的第一曲面。

5.根据权利要求1至权利要求4中的任一项所述的位置检测系统,其中,

所述第一方向的所述磁检测部的第一中心位置与所述第一方向的所述第一软质强磁性体的第二中心位置,在所述第一方向上不同。

6.根据权利要求1所述的位置检测系统,其中,

所述第一软质强磁性体的所述第一外缘,具有与所述第三方向的所述第一磁体的距离在所述第二方向上以第一长度为1周期而周期性变动的形状,

所述第二软质强磁性体的所述第二外缘,具有与所述第三方向的所述第一磁体的距离在所述第二方向上以所述第一长度为1周期而周期性变动的形状,

所述第一外缘的相位与所述第二外缘的相位仅相差0.5周期。

7.根据权利要求1或权利要求6所述的位置检测系统,其中,

所述第一外缘包括连续的第一曲面,所述第二外缘包括连续的第二曲面。

8.根据权利要求1至权利要求7中的任一项所述的位置检测系统,其中,

伴随所述第一软质强磁性体向所述第二方向移动,所述第一磁力线的方向周期性变动,

所述磁检测部检测周期性变动的所述第一磁力线的方向。

9.根据权利要求1至权利要求8中的任一项所述的位置检测系统,其中,

所述磁检测部包括第一磁检测元件和第二磁检测元件,所述第一磁检测元件具有第一检出轴,所述第二磁检测元件具有与所述第一检出轴交叉的第二检出轴。

10.根据权利要求9所述的位置检测系统,其中,

所述第一检出轴与所述第二方向实质上一致,所述第二检出轴与所述第三方向实质上一致。

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