[发明专利]绝缘材料体积电阻率测量系统及其控制方法

权利要求书

1.一种绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，包括：

为待测绝缘材料提供电能的直流高压电源；

连接在所述待测绝缘材料与所述直流高压电源之间的高压开关设备；

用于对所述待测绝缘材料的传导电流进行取样的取样电路；

数据采集卡；

连接在所述取样电路与所述数据采集卡之间的传导电流调理电路，所述传导电流调理电路包括电压跟随器、多级放大器和继电器；

与所述数据采集卡连接的工业控制计算机。

2.根据权利要求1所述的绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，还包括：

由所述工业控制计算机控制温度的温度试验箱，所述温度试验箱内用于放置所述待测绝缘材料。

3.根据权利要求2所述的绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，所述取样电路、所述传到电流调理电路和所述高压开关设备均为N个，N≥2，以同时对N个待测绝缘材料进行测量。

4.根据权利要求3所述的绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，还包括：

针对各个待测绝缘材料，用于在所述待测绝缘材料的传导电流大于预设电流阈值后，发送过电流信号至所述工业控制计算机的过流保护电路；

所述工业控制计算机在接收到所述过电流信号后，控制传到电流大于预设电流阈值的待测绝缘材料对应的高压开关设备断开。

5.根据权利要求2所述的绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，高压开关设备具体为：真空断路器或气动开关。

6.根据权利要求2～5中任意一项所述的绝缘材料体积电阻率测量系统，其特征在于，所述待测绝缘材料为圆柱形，所述绝缘材料体积电阻率测量系统还包括：

套在所述待测绝缘材料的低压电极处的屏蔽环，所述屏蔽环电气连接到所述直流高压电源的接地端。

7.一种控制方法，其特征在于，应用于如权利要求2～6中任意一项所述的绝缘材料体积电阻率测量系统的工业控制计算机，所述控制方法包括：

控制所述温度试验箱内温度达到目标温度，并保持所述目标温度超过预设第一时间；

在试验时间内，每隔预设时间，获取待测绝缘材料的传导电流，并计算得到体积电阻率；

生成所述待测绝缘材料的体积电阻率随时间的变化曲线。

8.根据权利要求7所述的控制方法，其特征在于，在所述试验时间内，还包括：

检测到所述待测绝缘材料发生闪络击穿后，控制所述高压开关设备断开。

9.一种控制方法，其特征在于，应用于如权利要求2～6中任意一项所述的绝缘材料体积电阻率测量系统的工业控制计算机，所述控制方法包括：

获取待测绝缘材料处于不同温度时的传导电流，并计算得到相应的体积电阻率；

生成所述待测绝缘材料的体积电阻率随温度的变化曲线。

10.根据权利要求9所述的控制方法，其特征在于，在获取待测绝缘材料处于不同温度时的传导电流的步骤，还包括：

检测到所述待测绝缘材料发生闪络击穿后，控制所述高压开关设备断开。