[发明专利]提高真空导电性的x射线和粒子护罩在审
申请号: | 201910774808.8 | 申请日: | 2019-08-21 |
公开(公告)号: | CN110853788A | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | R.J.德格鲁特;C.斯米特 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | G21F3/00 | 分类号: | G21F3/00;G21F1/08;G21F1/12;H01J37/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 邹松青;李建新 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 真空 导电性 射线 粒子 护罩 | ||
1.一种设备,其包括:
细长x射线护罩,其由成形为具有至少180º扭曲的扭曲件的高原子量材料制成。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述细长x射线护罩具有210º扭曲。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备,其中所述高原子量材料是铅。
4.根据权利要求1或权利要求2所述的设备,其中所述高原子量材料由包含烧结钨粒的材料形成。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述细长x射线护罩用一层低原子量材料涂布。
6.根据权利要求5所述的设备,其中所述低z材料是铝。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述细长x射线护罩用一层非蒸散型吸气剂材料涂布。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的设备,其中所述细长x射线护罩进行冷却。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的设备,其中所述细长x射线护罩进行正偏置或负偏置。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备,其中所述细长x射线护罩具有长度和宽度,并且所述宽度和长度基于真空管的内径及长度的一部分,所述真空管将高真空室与真空泵连接。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备,还包括布置成垂直于所述细长x射线护罩的第二细长x射线护罩,所述第二细长x射线护罩由成形为扭曲件的高原子量材料形成。
12.一种系统,其包括:
真空室;
真空泵;
真空管,其连接在所述真空室和所述真空泵之间;以及
细长x射线护罩,其安置在所述真空管的至少一部分内,所述细长x射线护罩由成形为扭曲件的高原子量材料形成。
13.根据权利要求12所述的系统,其中所述细长x射线护罩具有至少180º扭曲。
14.根据权利要求12所述的系统,其中所述细长x射线护罩具有至少210º扭曲。
15.根据权利要求12至14中任一项所述的系统,其中所述高原子量材料是铅。
16.根据权利要求12至14中任一项所述的系统,其中所述高原子量材料由包含烧结钨粒的材料形成。
17.根据权利要求12至16中任一项所述的系统,其中所述细长x射线护罩用一层低原子量材料涂布。
18.根据权利要求17所述的系统,其中所述低z材料是铝。
19.根据权利要求12至16中任一项所述的系统,其中所述细长x射线护罩由非蒸散型吸气剂材料制成。
20.根据权利要求12至19中任一项所述的系统,其中所述真空管的内表面用一层非蒸散型吸气剂材料涂布。
21.根据权利要求12至20中任一项所述的系统,其中所述细长x射线护罩进行正偏置或负偏置。
22.根据权利要求12至21中任一项所述的系统,其中所述真空室是带电粒子显微镜的一部分。
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