[发明专利]毫米波信号的测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910775825.3 申请日: 2019-08-21
公开(公告)号: CN110858781B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 翁国执 申请(专利权)人: 深圳富泰宏精密工业有限公司;群迈通讯股份有限公司
主分类号: H04B17/10 分类号: H04B17/10;H04B17/20;H04W76/10
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 李艳霞;饶智彬
地址: 518109 广东省深圳市龙华新区龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 毫米波 信号 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种毫米波信号的测量装置,所述测量装置与测量控制器及第二测量装置通信连接,其特征在于,所述测量装置包括全向性天线、阵列天线及处理器,所述处理器用于:

向所述测量控制器发送测试请求信号,其中,所述测试请求信号中包含有所述测量装置的位置信息;

接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号,并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器;

接收所述测量控制器发送的第四测试指令,并根据所述第四测试指令通过所述测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号;及

判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值,当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号,当接收的所述毫米波信号的信号质量没有超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第二反馈信号,其中所述处理器还用于:接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令控制所述测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第二测量装置;及根据所述测量控制器发送的第三测试指令控制所述测量装置通过所述测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号,并将波束的发射角度发送给所述测量控制器。

2.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:

在检测到所述测量装置移动到新的位置时,向所述测量控制器发送新的测试请求信号。

3.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:

通过第一天线接收所述测量控制器发送的第二测试指令。

4.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置,其特征在于,所述阵列天线包括四个扇区,每一扇区包括至少一扇区天线,所述测量装置根据所述测量控制器发送的所述第二测试指令,控制所述阵列天线中的所述四个扇区中的扇区天线进行扫描并以不同的入射角度接收所述第二测量装置发送的毫米波信号。

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