[发明专利]一种枪弹膛线表面痕迹激光检测装置在审

专利信息
申请号: 201910776665.4 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110553556A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 李刚;沈鑫;高惠英;王翔宇;王昕 申请(专利权)人: 李刚
主分类号: F42B35/02 分类号: F42B35/02;G01B11/00;G01N21/84
代理公司: 11453 北京名华博信知识产权代理有限公司 代理人: 时剑峰
地址: 050021 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 枪弹 激光检测装置 表面痕迹 数据测量 膛线 特征提取与分析 金刚石触针 位移传感器 变化规律 检测领域 枪弹痕迹 数字伺服 性能分析 采集卡 发射枪 聚焦式 圆光栅 工作台 测头 可用 立柱 显微 底座 弹头 枪支 射击 发射 研究 计算机 检验
【说明书】:

发明公开了一种枪弹膛线表面痕迹激光检测装置,属于枪弹检测领域,所述的枪弹膛线表面痕迹激光检测装置包括数据测量子系统和特征提取与分析子系统两部分组成,所述的数据测量子系统由立柱、底座、圆光栅和工作台、金刚石触针测头、数字伺服聚焦式位移传感器、采集卡、计算机等组成;本发明研究弹头发射痕迹的形成。变化规律及对之进行检验既可区分发射枪种和认定射击枪支为准确侦破枪击要案提供科学依据’又可用于研究枪弹痕迹的形成机理及显微形态’进行枪弹性能分析。

技术领域

本发明属于枪弹痕迹检测领域,更具体的说涉及一种枪弹膛线表面痕迹激光检测装置。

背景技术

研究弹头发射痕迹的形成、变化规律及对之进行检验,既可区分发射枪种和认定射击枪支’为准确侦破枪击要案提供科学依据’又可用于研究枪弹痕迹的形成机理及显微形态’进行枪弹性能分析。

弹头发射痕迹测量系统,是在原触针式和非接触式,弹头痕迹检测系统的基础上研制的,将电感式触针和数字伺服聚焦式位移传感器同时结合在系统中’两者互为旁证’并将,中非接触传感器由模拟伺服改为数字伺服聚焦控制’实现弹头发射痕迹的接触与非接触高效测量完成弹头痕迹特征的计算机自动测量、提取、分析和识别。

发明内容

本发明真实记录了阳膛线边缘的变化形态,也克服了数字摄影测量存在的因未能充分纪录弹头细微特征而导致比对弹头之间差异不能充分显示的弱点。

为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案实现:所述的枪弹膛线表面痕迹激光检测装置包括数据测量子系统和特征提取与分析子系统两部分组成,所述的数据测量子系统用于定量化获取弹头圆柱部的痕迹信息’如何真实有效地反映发射痕迹是该系统的关键;特征提取与分析子系统两部分组成后者则对所获得的发射痕迹进行分析’提取发射枪支的特征参数’识别枪支。

优选的,所述的数据测量子系统由立柱、底座、圆光栅和工作台、金刚石触针测头、数字伺服聚焦式位移传感器、采集卡、计算机等组成。

优选的,数字伺服聚焦式位移传感器采用改进的傅科刀口法,其聚焦性能和精度受测量环境,执行机构等诸因素影响,信号频率较高,故模拟聚焦控制的效果不好,导致位移传感器的聚焦精度低,测量速度慢量程小,不适应弹头形貌测量的高效率测量要求,为此改用数字伺服控制。

优选的,所述的传感器采用um工作台进行标定,工作台台面具有一斜度并和测微螺杆构成丝杠运动副,由于需要克服动子的重力,传感器需加上1.5V电压,才开始运动;标定开始时给音圈电机加上1.5V电压,然后旋转手轮使工作台每次上升5um再使传感器自动调整到焦点,记下此时D/A转换器的数字输入值。

优选的,所述的计算机为保证不丢失圆光栅产生的采样控制脉冲,在进入数据采集及控制子程序时,将其线程设置为最高优先级,独占包括CPU在内的全部系统资源,锁定鼠标及键盘,致使其他任务无法执行。

本发明有益效果:

本发明真实记录了阳膛线边缘的变化形态,也克服了数字摄影测量存在的因未能充分纪录弹头细微特征而导致比对弹头之间差异不能充分显示的弱点。

附图说明

图1为弹头空间心态展开图;

图2为弹头截面形状图;

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。

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