[发明专利]晶圆表面电荷消除装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910777052.2 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110505742B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 孟春霞;陈翰;张辰明;孟鸿林;魏芳 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王江富
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 表面 电荷 消除 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种晶圆表面电荷消除装置,其特征在于,其包括一外壳(1)、一隔板(3)及一上极板(2);

所述外壳(1)形成一密闭腔体;

所述隔板(3)固定在所述外壳(1)中部,其收缩时所述外壳(1)形成的密闭腔体连通为一体,使上腔室内的带电空气进入下腔室,与工作台(5)上的待处理晶圆(9)接触,中和待处理晶圆(9)表面的电荷;其展开时使所述外壳(1)形成的密闭腔体隔离为密闭上腔室及密闭下腔室,通过上电极(21)和下电极(31)对上极板(2)和隔板(3)施加相反电性的直流电压,对上腔室内的气体进行电离,形成等离子气体;

隔板(3)同外壳(1)的侧壁及底板之间形成密闭下腔室,隔板(3)同外壳(1)的侧壁及顶板之间形成密闭上腔室;

下腔室处的外壳(1)侧壁设置有能打开及关闭的晶圆放置门;

所述上极板(2)设置在所述上腔室内并平行于所述隔板(3);

所述外壳(1)为绝缘材质;

所述上极板(2)及隔板(3)均为导电材质;

所述上极板(2)连接有上电极(21);

所述隔板(3)连接有下电极(31);

所述下腔室内放置有电荷量测装置(6)及能升降及旋转的工作台(5);

所述上腔室的侧壁设置有用于对上腔室充气及抽气的通气接口。

2.根据权利要求1所述的晶圆表面电荷消除装置,其特征在于,

所述工作台(5)与运动汽缸相连,能被运动汽缸驱动上升、下降以及旋转。

3.根据权利要求2所述的晶圆表面电荷消除装置,其特征在于,

晶圆表面电荷消除装置还包括气压量测计及充抽气装置(7);

所述气压量测计用于检测所述上腔室内的气压;

所述充抽气装置(7)用于通过所述通气接口对上腔室抽气及充气。

4.根据权利要求3所述的晶圆表面电荷消除装置,其特征在于,

所述电荷量测装置(6)安装于工作台(5)旁边,用于检测工作台(5)所承载晶圆表面的电荷极性以及电量分布。

5.根据权利要求4所述的晶圆表面电荷消除装置,其特征在于,

所述晶圆表面电荷消除装置还包括控制器;

所述控制器,根据电荷量测装置(6)测量的晶圆表面的电荷极性以及电量分布,以及预存的相应晶圆表面电荷模型,计算出需要中和的电荷量,根据需要中和的电荷量确定需要的气体量,根据需要的气体量及上腔室体积确定目标气压值,根据目标气压值来控制所述充抽气装置(7)工作,对上腔室进行充气或抽气,直到气压量测计监测的上腔室气压达到目标气压值。

6.一种权利要求5所述的晶圆表面电荷消除装置的晶圆表面电荷消除方法,其特征在于,包括以下步骤:

一.打开晶圆放置门,通过外部机械手将待处理晶圆(9)放置到工作台(5)上,然后关闭晶圆放置门;

二.展开隔板(3)形成完全隔断的上腔室和下腔室;

三.电荷量测装置(6)对待处理晶圆(9)表面电荷进行测量,如果待处理晶圆(9)表面电荷在设定范围内,进行步骤九,否则进行步骤四;

四.控制器根据待处理晶圆(9)表面的电荷极性以及电量分布,以及预存的相应晶圆表面电荷模型,计算出需要中和的电荷量,根据需要中和的电荷确定需要的气体量,根据确定需要的气体量及上腔室体积确定目标气压值,根据目标气压值来控制所述充抽气装置(7)工作,对上腔室进行充气或抽气,直到气压量测计监测的上腔室气压达到目标气压值;

五.通过上电极(21)和下电极(31)对上极板(2)和隔板(3)施加相反电性的直流电压,对上腔室内的气体进行电离,形成等离子气体;

六.隔板(3)断电,上极板(2)施加与待处理晶圆(9)表面的电荷相反的电压,收缩隔板(3)使得上腔室、下腔室连通,使上腔室内的带电空气进入下腔室,与工作台(5)上的待处理晶圆(9)接触,中和待处理晶圆(9)表面的电荷;

七.运动汽缸驱动工作台(5)带着待处理晶圆(9)向上移动并旋转;

八.经过设定时间后,进行步骤三;

九.打开晶圆放置门,通过外部机械手将工作台(5)上的待处理晶圆(9)取走,送入下一流程。

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