[发明专利]一种校正井眼偏心对方位信号影响的方法及装置有效
申请号: | 201910777451.9 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN110454154B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 范建保;陈文轩;张文秀 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;G06F30/23;G06T17/00 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100027 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校正 偏心 方位 信号 影响 方法 装置 | ||
1.一种校正井眼偏心对方位信号影响的方法,其特征在于,所述方法包括:
在均匀地层的井眼三维模型中,获取轴向接收天线对应的轴向信号,第一方位接收天线对应的第一方位信号,以及第二方位接收天线对应的第二方位信号;其中,所述轴向接收天线、所述第一方位接收天线和所述第二方位接收天线均为随钻方位电磁波电阻率仪器的天线;
基于所述轴向信号、所述第一方位信号与所述第二方位信号构建表示信号关系的多项式;其中,所述信号关系为所述第一方位信号与所述第二方位信号之间的信号比值与所述轴向信号的关系;
基于所述轴向信号、所述第一方位信号与所述第二方位信号,对所述多项式进行数据拟合,确定所述多项式的多项式系数;根据所述多项式系数与所述井眼中的所述轴向接收天线接收的轴向实测信号,获得对井眼偏心进行校正的校正系数;其中,所述多项式为:其中,ai为多项式的系数,i取值为0到n,Vzz为均匀地层下的轴向信号,Vzx1为均匀地层下的第一方位信号,Vzx2为均匀地层下的第二方位信号;
根据所述校正系数对实测过程中的仪器在井眼中偏心时对井壁反射信号进行消除,获得表征地层边界距离的第三方位信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取轴向接收天线对应的轴向信号,第一方位接收天线对应的第一方位信号,以及第二方位接收天线对应的第二方位信号,包括:
获取所述井眼的参数信息;
基于所述参数信息,构建所述井眼三维模型;
基于所述井眼三维模型进行数值模拟,获得所述轴向信号、所述第一方位信号和所述第二方位信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述校正系数对实测过程中的仪器在井眼中偏心时对井壁反射信号进行消除,获得表征地层边界距离的第三方位信号,包括:
基于V′zx=V′zx1-AV′zx2,获得表征地层边界距离的第三方位信号;其中,V'zx为所述第三方位信号,V'zx1为第一方位接收天线在实际工况下测量得到的第一方位实测信号,V'zx2为第二方位接收天线在实际工况下测量得到的第二方位实测信号,A为校正系数。
4.一种校正井眼偏心对方位信号影响的装置,其特征在于,所述装置包括:
模拟参数获取模块,用于在均匀地层的井眼三维模型中,获取轴向接收天线对应的轴向信号,第一方位接收天线对应的第一方位信号,以及第二方位接收天线对应的第二方位信号;其中,轴向接收天线、第一方位接收天线和第二方位接收天线均为随钻方位电磁波电阻率仪器的天线;
信号关系构建模块,用于基于所述轴向信号、所述第一方位信号与所述第二方位信号构建表示信号关系的多项式;其中,所述信号关系为所述第一方位信号与所述第二方位信号之间的信号比值与所述轴向信号的关系;
校正系数获取模块,用于基于所述轴向信号、所述第一方位信号与所述第二方位信号,对所述多项式进行数据拟合,确定所述多项式的多项式系数;根据所述多项式系数与所述井眼中的所述轴向接收天线接收的轴向实测信号,获得对井眼偏心进行校正的校正系数;其中,所述多项式为:其中,ai为多项式的系数,i取值为0到n,Vzz为均匀地层下的轴向信号,Vzx1为均匀地层下的第一方位信号,Vzx2为均匀地层下的第二方位信号;
校正模块,用于根据所述校正系数对实测过程中的仪器在井眼中偏心时对井壁反射信号进行消除,获得表征地层边界距离的第三方位信号。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述模拟参数获取模块,还用于:
获取所述井眼的参数信息;
基于所述参数信息,构建所述井眼三维模型;
基于所述井眼三维模型进行数值模拟,获得所述轴向信号、所述第一方位信号和所述第二方位信号。
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