[发明专利]一种测量抑制网络的抑制特性的方法

说明书

本发明公开了一种测量抑制网络的抑制特性的方法，包括被测抑制网络的连接、第一次参考测量、第二次参考测量、损耗测量、抑制特性测量结果的计算等步骤。其可以解决在被测抑制网络两端连接电缆耦合(或屏蔽)衰减可能不一致的情况下，采用一次参考测量的间接注入法进行其抑制特性测量时，所带来的测量缺陷，以保证测量结果的真实可靠，且对被测抑制网络两端连接电缆耦合(或屏蔽)衰减一致的情况同样适用。

技术领域

本发明涉及一种测量抑制网络的抑制特性的方法，特别是一种能够准确、真实、可靠获得抑制网络的抑制特性测量结果的方法。

背景技术

对抑制网络进行抑制特性的测量有直接注入法和间接注入法两种，直接注入法是信号发生器输出的信号通过电缆直接注入到测量线路中，用测量接收机完成参考测量和损耗测量的方法；间接注入法是信号发生器输出的信号通过注入探头(也称电流注入探头或电流注入卡钳)耦合到测量线路中，用测量探头(也称电流测量探头或电流监测探头)完成参考测量和损耗测量的方法。本发明仅针对间接注入的方法。

目前，采用间接注入方法对抑制网络进行抑制特性的测量时，均只通过一次参考测量和一次损耗测量来完成，并将所得的两个测量值进行比较计算后得到被测对象抑制特性的测量结果。

该方法的的缺点是，仅适用于被测抑制网络两端的连接电缆的耦合(或屏蔽)衰减一致的情况。但是，由于连接电缆类型的不同、连接方式和连接工艺的不同，很难保证被测抑制网络两端的连接电缆具有相同的耦合(或屏蔽)衰减值。又因连接电缆的耦合(或屏蔽)衰减值与参考测量值和损耗测量值直接相关，则最终的测量结果将不能真实反映被测抑制网络的抑制特性的实际水平。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量抑制网络的抑制特性的方法，解决在被测抑制网络两端连接电缆耦合(或屏蔽)衰减可能不一致的情况下，采用一次参考测量的间接注入法进行其抑制特性测量时，所带来的测量缺陷，以保证测量结果的真实可靠，且对被测抑制网络两端连接电缆耦合(或屏蔽)衰减一致的情况同样适用。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种测量抑制网络的抑制特性的方法，包括如下步骤：

步骤一：被测抑制网络的连接：

在被测抑制网络两侧分别连接第一连接电缆和第二连接电缆；

步骤二：第一次参考测量：

通过注入探头向第一连接电缆第一次注入信号电平I₀，通过测量探头测得第一连接电缆的第一参考测量值I₁₁；根据信号电平I₀和第一参考测量值I₁₁计算得到第一连接电缆的耦合或屏蔽衰减值CA₁；

步骤三：第二次参考测量：

通过注入探头向第二连接电缆第二次注入信号电平I₀，通过测量探头测得第二连接电缆的第二参考测量值I₂₂；根据信号电平I₀和第二参考测量值I₂₂计算得到第二连接电缆的耦合或屏蔽衰减值CA₂；

步骤四：损耗测量：

通过注入探头向第一连接电缆和第二连接电缆中的其中一条电缆第三次注入信号电平I₀，通过测量探头测得另一条连接电缆的损耗测量值I₁₂；

步骤五：抑制特性测量结果的计算：

根据信号电平I₀、损耗测量值I₁₂、第一连接电缆的耦合或屏蔽衰减值CA₁和第二连接电缆的耦合或屏蔽衰减值CA₂计算被测抑制网络的抑制特性SC。