[发明专利]三维存储结构及其制作方法有效
申请号: | 201910779943.1 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN110676259B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 韩玉辉 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁文惠 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 存储 结构 及其 制作方法 | ||
1.一种三维存储结构,其特征在于,包括:
衬底和堆叠结构,所述堆叠结构位于所述衬底上;
所述堆叠结构包括核心阵列区域和位于所述核心阵列区域至少一侧的台阶区域,所述三维存储结构还包括位于所述堆叠结构中并贯穿至所述衬底的孔结构,所述孔结构包括多个沟道孔,各所述沟道孔中设置有存储结构;
将所述堆叠结构划分为沿第一方向顺序排列的第一区域、第二区域和第三区域;
所述第一方向为由所述核心阵列区域指向所述台阶区域的方向;
所述第二区域包括部分所述核心阵列区域和部分所述台阶区域;
所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域中均分布有所述孔结构,定义位于所述第一区域中所述孔结构的密度为R1,位于所述第二区域中所述孔结构的密度为R2,位于所述第三区域中所述孔结构的密度为R3,R1和R2和R3不完全相同,
在所述第一方向上,所述第二区域中所述孔结构的密度由Rmax渐变至Rmin,且R1≥Rmax>Rmin≥R3。
2.根据权利要求1所述的三维存储结构,其特征在于,R1R2R3。
3.根据权利要求1所述的三维存储结构,其特征在于,定义位于所述第一区域中的所述孔结构为第一通孔,位于所述第二区域中的所述孔结构为第二通孔,位于所述第三区域中的所述孔结构为第三通孔,所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔在所述衬底上的投影具有相同尺寸,定义任意两个相邻的所述第一通孔的间距为L1,任意两个相邻的所述第二通孔的间距为L2,任意两个相邻的所述第三通孔的间距为L3,L1、L2和L3不完全相同。
4.根据权利要求3所述的三维存储结构,其特征在于,L1<L2<L3。
5.根据权利要求4所述的三维存储结构,其特征在于,
在所述第一方向上,任意两个相邻的所述第二通孔之间的间距相等;
在所述第一方向上,所述第一通孔的间距渐变和/或所述第三通孔的间距渐变。
6.根据权利要求5所述的三维存储结构,其特征在于,
在所述第一方向上,任意两个相邻的所述第二通孔的间距渐变。
7.根据权利要求6所述的三维存储结构,其特征在于,
在所述第一方向上,任意两个相邻的所述第二通孔的间距由Lmin渐变至Lmax,且L1<Lmin<Lmax<L3。
8.根据权利要求1所述的三维存储结构,其特征在于,定义位于所述第一区域中的所述孔结构为第一通孔,位于所述第二区域中的所述孔结构为第二通孔,位于所述第三区域中的所述孔结构为第三通孔,任意两个相邻的所述第一通孔的间距、任意两个相邻的所述第二通孔的间距以及任意两个相邻的所述第三通孔的间距相同,定义所述第一通孔在所述衬底上投影的面积为S1,所述第二通孔在所述衬底上投影的面积为S2,所述第三通孔在所述衬底上投影的面积为S3,S1、S2和S3不完全相同。
9.根据权利要求8所述的三维存储结构,其特征在于,S1>S2>S3。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的