[发明专利]一种适用于质量比较仪的校准装置及其校准方法

权利要求书

1.一种适用于质量比较仪的校准装置，包括由支撑架和工作平台组成的机架，其特征在于，还包括试验台和设置在所述工作平台上的X轴组件、Y轴组件、Z轴组件；

所述试验台包括设置在所述支撑架内并呈块状结构的台体，所述台体的底面固定在地面上，其顶面始终水平，并对应该台体的顶面在所述工作平台的中部开设有一定尺寸贯穿两端面的通孔，即限位孔，以用于质量比较仪的限位放置，且所述限位孔竖向正对的台体顶面上设置有限位件，用于所述质量比较仪的限位；

所述Y轴组件包括平行分设于所述限位孔两侧的Y轴滑轨，所述Y轴滑轨固定在所述工作平台上，且各所述Y轴滑轨上分别设置有可沿Y轴滑轨轴向往复滑动的支架；所述X轴组件设置在两所述支架的顶部，其包括两端分别固定于两所述支架顶部的X轴滑轨，以及设置在所述X轴滑轨上并可沿该X轴滑轨轴向往复滑动的滑块；所述Z轴组件包括固定设置在所述滑块的底部的Z轴电机，该Z轴电机的输出轴端部朝下并可沿竖向往复伸缩，且所述Z轴电机的输出轴端部设置有夹具；

同时，所述限位孔沿所述Y轴滑轨轴向的至少一侧的工作平台上设置有砝码库，所述砝码库中可容置若干砝码，且所述夹具可在X轴组件、Y轴组件和Z轴组件的组合带动下对准所述砝码，并将其夹取带动到限位于所述限位孔内的质量比较仪上。

2.根据权利要求1所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，对应所述滑块设置有可驱动该滑块往复移动的X轴电机，以及对应两所述支架设置有可驱动所述支架往复移动的Y轴电机。

3.根据权利要求2所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，还包括电控箱，所述电控箱分别与所述X轴电机、所述Y轴电机和所述Z轴电机以电连接，用于分别控制各电机工作。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述砝码库为分设于所述限位孔沿Y轴滑轨轴向两侧的两个。

5.根据权利要求4所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述夹具呈水平板状结构，其中部与所述Z轴电机的输出轴对应连接，且所述夹具沿Y轴滑轨轴向的两侧端部分别开设有可匹配所述砝码顶部弧形环槽的“C形”缺口。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述工作平台的顶面上还设置有密封罩，所述密封罩可将所述工作平台顶面上方的各部件罩住。

7.一种适用于质量比较仪的校准方法，其利用权利要求1～6中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置来实现，其校准的步骤如下：

S1：将待校准的质量比较仪限位固定在所述试验台上，并在所述砝码库中放置对应的标准砝码；

S2：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行重复性校准所需的数据，进行重复性校准；

S3：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行偏载校准所需的数据，进行偏载校准；

S4：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行局部示值误差校准所需的数据，进行局部示值误差校准；

S5：完成待校准质量比较仪的校准。