[发明专利]天线方位角的优化方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种天线方位角的优化方法，其特征在于，包括：

获取与待处理天线对应的参考区域；

根据预设的扇区角度值，对所述参考区域进行分割处理，得到角度为所述扇区角度值的多个扇区，其中，每个所述扇区与所述多个扇区中的至少一个其它扇区分别有重叠；

获取每个所述扇区对应的测量报告MR分布信息，并根据每个所述扇区对应的MR分布信息，从所述多个扇区中确定至少一个目标扇区，其中，所述至少一个目标扇区用于指示用户的分布区域；

根据所述至少一个目标扇区，确定所述待处理天线的方位角；

所述获取与待处理天线对应的参考区域，包括：以所述待处理天线所在基站的位置为中心，确定所述基站对应的待处理区域；

获取所述待处理区域对应的MR分布信息，并根据所述MR分布信息从所述待处理区域中筛选出所述参考区域；

所述待处理区域中包括多个栅格；根据每个所述扇区对应的MR分布信息，从所述多个扇区中确定至少一个目标扇区，包括：

确定每个所述扇区所包括的栅格；

根据每个所述扇区对应的MR分布信息，确定每个所述扇区所包括的每个栅格中的采样点信息；

根据每个所述扇区中的各栅格中的采样点信息，计算每个所述扇区的第一权值；

根据所述多个扇区和预设的间隔角度值，确定多个扇区组合；其中，每个扇区组合中包括至少一个扇区；当所述扇区组合中包括至少两个扇区时，所述至少两个扇区中的任意两个扇区之间的间隔角度大于等于所述间隔角度值；

根据每个所述扇区对应的第一权值，确定每个所述扇区组合所对应的第二权值，并将第二权值最大的扇区组合中的扇区，确定为所述目标扇区。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以所述待处理天线所在基站的位置为中心，确定所述基站对应的待处理区域，包括：

以所述基站的位置为圆心、预设的距离阈值为半径，确定圆形区域，将所述圆形区域确定为所述待处理区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述MR分布信息从所述待处理区域中筛选出所述参考区域，包括：

根据所述待处理区域对应的MR分布信息，确定至少一个采样点，其中，每一个所述采样点为具有MR信息的点，所述采样点位于所述栅格；

根据所述至少一个采样点的位置，确定每一个所述栅格中的采样点的总个数，其中，每一个所述栅格中的每一个采样点具有对应的服务小区；

根据每一个所述栅格中的各采样点，确定每一个所述栅格中服务小区为主小区的采样点，其中，所述主小区为所述基站的小区；

根据每一个所述栅格中服务小区为主小区的采样点的个数、每一个所述栅格中的采样点的总个数，确定每一个所述栅格的采样点比例；

根据预设的采样点比例与站点覆盖类型的对应关系，确定每一个所述栅格的采样点比例对应的站点覆盖类型，其中，所述站点覆盖类型包括本站覆盖类型、别站覆盖类型；

根据本站覆盖类型的栅格的MR分布信息中的电平值，确定与本站覆盖类型的栅格的信号覆盖类型，其中，所述信号覆盖类型包括第一类型和第二类型；第一类型中的栅格中预设比例的采样点的电平值，均大于第一预设电平阈值；第二类型中的栅格中预设比例的采样点的电平值，均小于第二预设电平阈值；所述第一预设电平阈值大于所述第二预设电平阈值；

根据别站覆盖类型的栅格、第一类型的栅格、第二类型的栅格，对所述待处理区域进行筛选处理，得到所述参考区域。