[发明专利]一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质，所述TDM背板总线测试方法包括：当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时，控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道；将每个所述误比特率测试通道的时隙进行标记，并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙；将每个所述误比特率测试通道的时隙与所述用户线路单板的时隙进行联网，并通过多个所述误比特率测试通道测试TDM背板总线的通断状态。本发明通过在媒体板上设置多条并行的误比特率测试通道，并通过多个误比特率测试通道同时对TDM背板总线进行测试，以提高对TDM背板总线的测试效率。

技术领域

本发明涉及背板测试设备应用领域，尤其涉及一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质。

背景技术

TDM(时分复用模式)背板总线是VoIP(网络电话)产品常用的总线设计方式，一般多槽位的设备都由TDM总线来传输时隙交换的数据；在安装时隙交换芯片时，会将芯片放置在主控板上，然后再通过背板TDM总线与各业务槽位相连；由于，生产中的一些工艺问题，并不能保证每块业务板与主控板的TDM总线的连接都是正常的，因此，在生产TDM背板总线时，需要测试出TDM总线是否正常工作，而TDM背板总线太多，一般的测试方式效率太低。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术缺陷，本发明提供一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质，通过在媒体板上设置多条并行的误比特率测试通道，并通过多个误比特率测试通道同时对TDM背板总线进行测试，以提高对TDM背板总线的测试效率。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

本发明提供一种TDM背板总线测试方法，其中，所述TDM背板总线测试方法包括以下步骤：

当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时，控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道；

将每个所述误比特率测试通道的时隙进行标记，并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙；

将每个所述误比特率测试通道的时隙与所述用户线路单板的时隙进行联网，并通过多个所述误比特率测试通道测试TDM背板总线的通断状态。

进一步地，所述当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时，控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道之前包括以下步骤：

检测所述主控板、所述媒体板以及所述用户线路单板的通电状态是否处于正常状态；

当所述主控板、所述媒体板以及所述用户线路单板的通电状态处于正常状态时，启动所述主控板、所述媒体板以及所述用户线路单板。

进一步地，所述当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时，控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道具体包括以下步骤：

当所述主控板、所述媒体板以及所述用户线路单板启动时，通过所述主控板向所述媒体板发送控制指令；

所述媒体板接收所述控制指令，并控制数字信号处理模块启动多个所述误比特率测试通道。

进一步地，将每个所述误比特率测试通道的时隙进行标记，并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙具体包括以下步骤：

获取每个所述误比特率测试通道所对应的时隙，并按照预设顺序对每个所述误比特率测试通道所对应的时隙进行标记；

获取所述用户线路单板中每个槽位的槽位信息，并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙。

进一步地，将每个所述误比特率测试通道的时隙与所述用户线路单板的时隙进行联网，并通过多个所述误比特率测试通道测试TDM背板总线的通断状态具体包括以下步骤：