[发明专利]一种基于高密度电法温纳装置的三维电阻率测深应用方法

权利要求书

1.一种基于高密度电法温纳装置的三维电阻率测深应用方法,其特征在于：具体方法如下：

1)采用2D高密度电阻率仪，沿矩形断面等距截取数据体；

2)在现有2D高密度电阻率剖面数据的基础上，构建三维不均匀测网电极排列方法及网格；

3)结合三维反演程序要求，进行二三维数据格式转换，编写2D高密度电法不均匀测网三维反演数据格式；编写2D高密度电法不均匀测网三维反演数据格式具体如下：由不均匀测网电极排列及网格间距，结合三维反演程序要求，编制不均匀测网三维反演数据格式转换软件，将高密度温纳数据格式转换为不均匀测网三维反演数据格式如下：

2.根据权利要求1所述的一种基于高密度电法温纳装置的三维电阻率测深应用方法,其特征在于：具体截取方法为：选定区域内布设2D高密度电法剖面6条，编号为11、12、13、14、15、16，剖面间距均为50m，剖面点距10m，剖面方位均为295°，将2D高密度电法剖面温纳装置倒梯形的观测数据点进行截取，调整为矩形数据点位，始终点号分别为38、62，剖面长度均为240m，最小AB距＝60m，最大AB距＝660m。

3.根据权利要求1所述的一种基于高密度电法温纳装置的三维电阻率测深应用方法,其特征在于：构建三维不均匀测网电极排列方法及网格具体方法如下：

对高密度电法温纳排列数据格式进行转换，转换为对称四极电测深AB、MN极距关系如下：

AB/2：30m,60m,90m,120m,150m,180m,210m,240m,270m,300m,330m

MN/2：10m,20m,30m,40m,50m,60m,70m,80m,90m,100m,110m

三维电测深测量不均匀网格间距，各剖面电测深点对应A、B、M、N电极位置，设置为：以16号剖面38号测深点为三维电测深网格的坐标原点(0,0)以每个测深点对应A、B、M、N电极位置为横坐标，以11、12、13、14、15、16号剖面等间距0m、50m、100m、150m、200m、250m为纵坐标建立所有电极点位与电阻率、高程的对应关系，横坐标网格间距为：

网格间距对称排列为：0m 20m 10m 10m 10m……10m 20m

纵坐标网格距为：50m。