[发明专利]一种纹路识别装置及其纹路识别方法有效
申请号: | 201910785972.9 | 申请日: | 2019-08-23 |
公开(公告)号: | CN110490184B | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 李亚鹏;丁小梁;王海生;马媛媛;王佳斌;曹学友;王文娟 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G06V40/13 | 分类号: | G06V40/13;G06V40/12;G02B27/28 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纹路 识别 装置 及其 方法 | ||
1.一种纹路识别装置,其特征在于,所述纹路识别装置具有显示区,所述显示区包括纹路识别区,所述纹路识别区包括识别区和参考区;
所述纹路识别装置包括显示面板,所述显示面板在所述识别区和所述参考区均设置有多个发光器件;
所述纹路识别装置还包括:设置于所述显示面板出光侧的上偏光片、设置于所述显示面板背离所述上偏光片一侧的下偏光片、设置于所述下偏光片背离所述显示面板一侧的纹路识别层;所述下偏光片位于所述参考区,所述上偏光片至少位于所述参考区,所述纹路识别层包括位于所述纹路识别区的识别区的部分和参考区的部分;
其中,所述上偏光片与所述下偏光片的偏振方向垂直。
2.根据权利要求1所述的纹路识别装置,其特征在于,所述纹路识别区的面积小于所述显示区的面积。
3.根据权利要求1或2所述的纹路识别装置,其特征在于,所述参考区的至少一个边沿与所述纹路识别区的至少一个边沿有交叠。
4.根据权利要求1所述的纹路识别装置,其特征在于,所述上偏光片还位于所述识别区;
所述上偏光片包括偏振片和1/4波片,所述1/4波片位于所述偏振片与所述显示面板之间。
5.一种如权利要求1-4任一项所述的纹路识别装置的纹路识别方法,其特征在于,所述纹路识别方法包括检测阶段;
所述检测阶段包括:
在当前帧获取第一亮度信息和第二亮度信息;在参考区的第一残影区,所述第一亮度信息包括发光器件在上一帧透射至纹路识别层上的第一残余亮度信息;在识别区的第二残影区,所述第二亮度信息包括所述发光器件在上一帧透射至所述纹路识别层上的第二残余亮度信息、当前帧环境光照射到所述纹路识别层上的第一外界亮度信息、以及纹路亮度信息;在上一帧,向所述纹路识别层透射所述第一残余亮度信息的发光器件与向所述纹路识别层透射所述第二残余亮度信息的所述发光器件一一对应且发光亮度相同;
将所述第一亮度信息作为第一残影信息,根据所述第一残影信息与第二残影信息的函数关系、所述第一亮度信息、第二亮度信息,得到所述第二残影区的所述纹路亮度信息;在所述第一残影区,所述第一残影信息包括在第n帧获取的第n-1帧中所述发光器件透射至所述纹路识别层上的第三残余亮度信息;在所述第二残影区,所述第二残影信息包括在第n帧获取的第n-1帧中所述发光器件透射至所述纹路识别层上的第四残余亮度信息、第n帧环境光照射到所述纹路识别层上的第二外界亮度信息;在第n-1帧,向所述纹路识别层透射所述第三残余亮度信息的所述发光器件与向所述纹路识别层透射所述第四残余亮度信息的所述发光器件一一对应且发光亮度相同;n≥2。
6.根据权利要求5所述的纹路识别装置的纹路识别方法,其特征在于,在所述检测阶段之前,所述纹路识别方法还包括标定阶段;
所述标定阶段包括:
在连续的m帧画面中的第n-1帧,获取所述第一残影区和所述第二残影区的位置;m≥n;
在连续的m帧画面中的第n帧,获取所述第一残影区的所述第一残影信息和所述第二残影区的所述第二残影信息;其中,第n-1帧发光的所述发光器件与第n帧发光的发光器件位置不同;
根据多组所述第一残影信息和所述第二残影信息,得到所述第一残影信息与所述第二残影信息的函数关系。
7.根据权利要求6所述的纹路识别装置的纹路识别方法,其特征在于,在所述标定阶段,所述纹路识别装置所处的环境的光强为0。
8.根据权利要求6或7所述的纹路识别装置的纹路识别方法,其特征在于,纹路识别层包括多个纹路识别单元,每个纹路识别单元与一个薄膜晶体管电连接;
接收所述第一残余亮度信息的所述纹路识别单元和接收与该第一残余亮度信息对应的所述第二残余亮度信息的所述纹路识别单元与同一行薄膜晶体管电连接;
和/或,接收所述第三残余亮度信息的所述纹路识别单元和接收与该第三残余亮度信息对应的所述第四残余亮度信息的所述纹路识别单元与同一行所述薄膜晶体管电连接;
其中,位于同一行的所述薄膜晶体管同时工作。
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