[发明专利]一种图像检测方法及相关设备在审
申请号: | 201910788709.5 | 申请日: | 2019-08-23 |
公开(公告)号: | CN112417934A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 张钧萍;汪鹏程 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/34;G06K9/62 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 检测 方法 相关 设备 | ||
1.一种图像检测方法,其特征在于,包括:
获取目标图像,所述目标图像为根据特定波段进行补光而拍摄得到的图像,所述目标图像中包括检测区域;其中,第一材料和第二材料在所述特定波段中的光谱反射率的差值大于第一阈值;
根据所述检测区域中的目标像素点,检测所述检测区域中是否存在目标区域;所述目标像素点包括:灰度值不在第一预设范围内的像素点,或者灰度值在第二预设范围内的像素点,所述第一预设范围包括所述第一材料的灰度值范围,所述第二预设范围包括所述第二材料的灰度值范围;
当检测到存在所述目标区域,生成第一检测结果;当检测到不存在所述目标区域,生成第二检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标图像之前,还包括:
通过高光谱摄像机采集所述第一材料的高光谱数据和所述第二材料的高光谱数据;
根据所述第一材料的高光谱数据和所述第二材料的高光谱数据确定所述特定波段的范围。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述特定波段范围包括550nm~700nm。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述检测区域中的目标像素点,检测所述检测区域中是否存在目标区域包括:
从所述目标图像中提取检测区域;
若所述检测区域的目标像素点覆盖的范围大于第二阈值,则检测出所述检测区域中存在目标区域;或者
若所述检测区域的目标像素点覆盖的区域范围与所述检测区域中字符区域范围的重叠面积大于第三阈值,则检测出所述目标区域中存在目标区域。
5.一种图像检测方法,其特征在于,包括:
获取第一材料的图像的高光谱特征信息,以及获取目标图像的高光谱特征信息,所述目标图像中包括检测区域;
利用所述第一材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域,所述目标区域中包括:与所述第一材料的高光谱特征信息不匹配的区域;
当检测到存在所述目标区域,生成第一检测结果;当检测到不存在所述目标区域,生成第二检测结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述利用所述第一材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域之前,还包括:获取第二材料的图像的高光谱特征信息;
利用所述第一材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域,包括:
利用所述第一材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域;
以及利用所述第二材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述获取第一材料的图像的高光谱特征信息包括:
根据所述第一材料的图像的高光谱数据,选取所述第一材料的图像的目标像素点的光谱均值,组成第一光谱矩阵,所述第一材料的图像的高光谱特征信息包括所述第一光谱矩阵;
所述利用所述第一材料的图像的高光谱特征信息检测所述检测区域中是否存在目标区域包括:将所述检测区域的高光谱数据在所述第一光谱矩阵上进行正交投影,以得到丰度估计检测结果,所述丰度估计检测结果包括所述检测区域中每个像素点为所述第一材料的概率的描述;
若目标像素点覆盖的面积大于第二阈值,则检测出所述检测区域中存在目标区域;或者,若所述目标像素点覆盖的区域范围与所述检测区域中字符区域范围的重叠面积大于第三阈值,则检测出所述检测区域中存在目标区域;所述目标像素点包括所述丰度估计检测结果中所述概率符合预设条件的像素点。
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