[发明专利]一种荧光探针有效工作温度参数的界定方法

说明书

本发明属于分析测试技术领域，涉及一种荧光探针有效工作温度参数的界定方法；具体包含温度偏移情况下探针信号的检测、荧光探针对温度偏移响应规律解析、以及探针有效工作温度的定量界定三个步骤；本发明通过解析荧光探针信号对温度正向偏移和负向偏移的响应规律，分别构建了荧光信号正向偏移幅度函数和荧光信号负向偏移幅度函数，实现了允许检测误差范围内荧光探针对应工作温度参数的精确界定，可为荧光探针在实际应用中的有效工作温度范围界定提供参考依据，从而实现待测分析物的高效、精准荧光法检测。

技术领域

本发明属于分析测试技术领域，涉及一种荧光探针有效工作温度参数的界定方法。

背景技术

荧光探针与待测目标分析物作用后使其自身荧光特性发生改变，从而实现待测分析物的定性或定量检测，具有分析灵敏度高、检测成本低和操作简单等优点，已广泛应用于食品检测、环境监测和生物成像领域。荧光探针的高灵敏度同时也意味着其易受检测体系环境参数的影响，因此荧光探针的有效工作环境界定对荧光探针实际检测结果的有效性、可靠性和稳定性至关重要。

测试环境温度是影响荧光探针检测有效性的重要因素之一。实验室环境下，荧光探针经过测试环境温度优化后，具有很高的测试精度。在荧光探针的实际应用过程中，其对应的测试环境温度往往无法做到与其最优测试环境温度保持严格一致。如何在允许的检测精度误差内，精确界定荧光探针的工作环境温度显的至关重要。

现有的荧光探针有效工作温度界定方法为在最佳工作温度附近测定有限个温度值对应的荧光信号，通过比较有限个温度值的荧光信号强度与最佳工作温度对应的荧光信号强度，从而确定其给定误差对应的有效工作温度范围。该方法的不足为得到的有效工作温度范围的边界必定为测定的有限个温度值之一，温度范围的边界值无法精确界定。

发明内容

本发明的目的在于解决现有技术中的问题之一，本发明提出了一种荧光探针有效工作温度参数的界定方法，从而为确定荧光探针的实际应用范围提供参考依据。

本发明所述一种荧光探针有效工作温度参数的界定方法，具体包含温度偏移情况下探针信号的检测、荧光探针对温度偏移响应规律解析、以及探针有效工作温度的定量界定三个步骤:

温度偏移情况下探针信号的检测：

对最佳工作温度为T₀℃的荧光探针，设定其温度正向偏移幅度为ΔT₁℃，温度负向偏移幅度为ΔT₂℃；依次测量正向偏移幅度和负向偏移幅度内不同温度下对应荧光探针的荧光信号；

所述正向偏移幅度和负向偏移幅度内温度下对应荧光探针的荧光信号的检测方法具体如下：

当温度正向偏移时，荧光信号检测次数为n+1，以单次增幅ΔT₁/n℃，依次测量温度T₀，T₀+ΔT₁/n，T₀+2ΔT₁/n，……，T₀+(n-1)ΔT₁/n，T₀+nΔT₁/n℃对应的荧光信号A₀，A₁，A₂，……，A_n-1，A_n；当温度负向偏移时，荧光信号检测次数为m，以单次减幅ΔT₂/m，依次测量温度T₀-ΔT₂/m，T₀–2ΔT₂/m，……，T₀-(m-1)ΔT₂/m，T₀–mΔT₂/m℃对应的荧光信号B₁，B₂，……，B_m-1，B_m；其中，n和m为大于0的整数。

荧光探针对温度偏移响应规律解析：