[发明专利]电子装置及其制作流程

说明书

一种电子装置，该电子装置包括一第一子像素以及一测试组件。该第一子像素包括一第一晶体管以及一第一电子单元。该第一电子单元电性连接于该第一晶体管。该测试组件具有一第一阻抗，该第一电子单元具有一第二阻抗，并且该第一阻抗大于该第二阻抗。

技术领域

本发明是关于一种电子装置及其制作流程，特别是有关于一种有源式矩阵(active matrix)发光二极管(LED)的电子装置及其制作流程。

背景技术

在现有的市场中，有源式矩阵驱动是在每个像素上都有相对应的薄膜晶体管(thin film transistor：TFT)以驱动每个像素的发光组件，因此可以产生高亮度和高清楚影像及具有较宽广的视觉角度。然而，在现有的有源式矩阵发光二极管的制作流程中，并没有方式可以在发光二极管执行表面贴焊技术(surface mount technology：SMT)程序前，就先测试每一像素中所对应薄膜晶体管的功能是否正常，而是必须在发光二极管执行SMT程序后，才可执行对应每一像素的照明检查(light-on inspection)。因此，若在发光二极管打件后的照明检查中，才发现对应该像素的该薄膜晶体管有问题，则会浪费该发光二极管的电子组件，因而增加制程成本或制程时间。

发明内容

为解决上述浪费发光二极管的电子组件，增加制程成本或制程时间的问题，本发明提供一种电子装置及其制作流程。

依据本发明一实施例的电子装置，该电子装置包括一第一子像素以及一测试组件，该第一子像素包括一第一晶体管，以及一第一电子单元。该第一电子单元电性连接于该第一晶体管。该测试组件电性连接于该第一晶体管。该测试组件具有一第一组抗，该电子单元具有一第二阻抗，并且该第一阻抗大于该第二阻抗。

在本发明的一实施例中，该第一阻抗与该第二阻抗的比值介于10至10⁷范围之间。

在本发明的一实施例中，该测试组件邻近于该第一晶体管，并且该测试组件与该第一子像素于俯视该电子装置的方向上至少部分重叠。

在本发明的一实施例中，该测试组件并联于该第一电子单元。

在本发明的一实施例中，该测试组件包括一电阻、一虚设薄膜晶体管或一高阻抗线路。

在本发明的一实施例中，该电子装置更包括一控制开关，电性连接于该第一晶体管与该测试组件之间。

在本发明的一实施例中，该控制开关包括一晶体管。

在本发明的一实施例中，该电子装置更包括一第二子像素，该第二子像素包括一第二晶体管以及一第二电子单元。该第二电子单元电性连接于该第二晶体管。其中，该测试组件电性连接该第二晶体管。

在本发明的一实施例中，该测试组件的一端电性连接该第一晶体管，并且该测试组件的另一端电性连接一负电位或一地电位。

依据本发明一实施例的电子装置的制作流程，该电子装置的制作流程包括：提供一基板；设置一第一晶体管及一测试组件于一基板上，并且该第一晶体管电性连接该测试组件；对该第一晶体管执行一关闭动作；于该第一晶体管及该测试组件之间施加电位能；透过该该测试组件执行一判定步骤，并获得一判定结果；以及依据该判定结果，决定是否设置一第一电子单元于该基板上。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1为本发明一实施例的电子装置示意图；

图2为本发明实施例的测试组件示意图；

图3为本发明另一实施例的电子装置示意图；

图4为本发明另一实施例的电子装置示意图；