[发明专利]针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质

权利要求书

1.一种针对容差电路的机内测试BIT方法，其特征在于，包括：

对待测的容差模拟电路系统进行划分，得到一个或多个子电路组合，其中，每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路；针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合，确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点，并通过电路仿真，获取所述撕裂节点的电压仿真计算值和所述诊断用测试节点的电压仿真计算值区间；

在BIT过程中，给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压，采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值，并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过电路仿真，获取所述诊断用测试节点的电压仿真计算值区间，包括：

对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数分别进行容差范围内的随机赋值，各自得到N个赋值参数，N为正整数；

对于每一个诊断用测试节点，从待测的容差模拟电路系统中每一个元器件参数的N个赋值参数中随机选取一个赋值参数，形成M个赋值元器件参数，M为正整数；

分别对每一个赋值元器件参数进行仿真分析，得到每一个诊断用测试节点的M个电压值；

从M个电压值中确定出最小值Vmin和最大值Vmax，将区间[Vmin，Vmax]确定为每一个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对待测的容差模拟电路系统中的每一个元器件参数进行容差范围内的随机赋值，包括：

对于每一个元器件参数，以该元器件参数标称值为对称中心，按正态分布规律进行赋值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障，包括：

对于每一个子电路分别进行如下操作：

将该子电路内每个诊断用测试节点的电压仿真计算值区间分别与对应的测试电压值相比较；

当该子电路内每个诊断用测试节点的测试电压值均落在仿真计算值区间之内时，则确定该子电路没有故障；

当该子电路内存在任一诊断用测试节点的测试电压值未落在电压仿真计算值区间之内时，则确定该子电路存在故障。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个子电路组合包括第一级子电路组合至第i级子电路组合，所述第一级子电路组合包括对所述待测的容差模拟电路系统划分得到的至少两个子电路，所述第i级子电路组合包括对第i-1级子电路组合内的任一子电路划分得到的至少两个子电路；其中，i为大于1的整数；

所述在BIT过程中，给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压，采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值，并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障，包括：

在BIT过程中，当所述第i-1级子电路组合内的任一子电路被检测到存在故障，则给对存在故障的子电路划分得到的第i级子电路组合中的每两个子电路的撕裂节点施加激励电压，采集所述第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值，并分别根据所述第i级子电路组合中每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定所述第i级子电路组合中的每一个子电路是否存在故障。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每一个子电路组合中包括的每两个子电路之间除了撕裂节点之外没有耦合，且没有分离的控制源和受控对象，所述撕裂节点为可及节点；每一个子电路组合中的每一个子电路内含有满足以下条件的可及节点：节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，每一个子电路内的诊断用测试节点为该子电路内满足以下条件的可及节点：节点电压值相对于该子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。